ZHCSRX7 june 2023 BQ79616
PRODUCTION DATA
該器件可以檢測 VC 和 CB 引腳上的開路連接。每個 VC 和 CB 引腳均連接了一個電流阱,但 VC0 和 CB0 引腳除外,這些引腳連接了電流源。
當電流阱(或電流源)啟用并且存在開路連接時,外部差分電容器將耗盡,電芯電壓測量值將隨著時間的推移下降到異常水平。類似的檢測概念適用于帶有電流源的 VC0 和 CB0 引腳。如果存在開路連接,VC0 或 CB0 將被電流源上拉,從而使電芯電壓測量值隨著時間的推移而降低。
啟用診斷比較后,器件會將來自主 ADC 的電池電壓測量值(用于 VC 引腳開路檢測)與主機編程的閾值進行比較;或者將來自 AUX ADC 的 AUX 電芯測量值(用于 CB 引腳開路檢測)與主機編程的閾值進行比較。
如果 MCU 在開始 CB 開路檢查之前通過 [AUX_CELL_SEL] 鎖定至單個 CB 通道,則器件會報告用于檢查比較的 AUX 電芯測量值。該值在 DIAG_AUX_HI/LO 寄存器中報告。由于主 ADC 中沒有單通道鎖定機制,因此用于 VC 開路的 VC 通道測量值將不會在 DIAG_MAIN_HI/LO 寄存器中報告。
圖 8-51 開路檢測在開始開路比較之前,主機確保:
要開始開路比較,請執(zhí)行以下操作:
主機檢查 FAULT_COMP_VCOW1/2 或 FAULT_COMP_CBOW1/2 寄存器以獲取比較結果。