可以通過開啟均衡 FET 并比較 FET 兩端的電壓(通過 AUX ADC 路徑)與電芯電壓(通過主 ADC 路徑)來執(zhí)行電芯均衡 FET 檢查。要讀取用于檢查的 AUXCELL 測量值,MCU 必須使用 [AUX_CELL_SEL] 設(shè)置將該診斷檢查設(shè)置為鎖定在單個(gè)通道上,然后啟動(dòng)該診斷檢查。AUXCELL 比較值將報(bào)告給 DIAG_AUX_HI/LO 寄存器。
在開始電芯均衡 FET 比較之前,主機(jī)確保:
- 主 ADC 以連續(xù)模式運(yùn)行。
- 在 ADC_CTRL2[AUX_CELL_SEL4:0] 中進(jìn)行配置,以選擇測試 CB FET 的 AUXCELL 通道。
- 通過 ADC_CONF1[AUX_SETTLE1:0] 為 AUX CELL 通道選擇所需的穩(wěn)定時(shí)間。
- 如果均衡正在運(yùn)行,則暫停 CB。
- 通過 DIAG_CBFET_CTRL1 和 DIAG_CBFET_CTRL2 寄存器配置要測試的 CBFET。
- 最多開啟 8 個(gè) CBFET 以及開啟不超過兩個(gè)連續(xù) CBFET 的規(guī)則仍然適用。
- 建議以奇數(shù)和偶數(shù)方式進(jìn)行測試。
要開始 CBFET 比較,請執(zhí)行以下操作:
- 以連續(xù)模式啟動(dòng) AUX ADC。
- 通過設(shè)置 DIAG_COMP_CTRL3[CBFET_CTRL_GO] = 1 開啟選定的 CBFET 并等待適當(dāng)?shù)?dv/dt 時(shí)間。
- 設(shè)置 DIAG_COMP_CTRL3[COMP_ADC_SEL2:0] = CBFET 檢查(即 0b100)并設(shè)置 [COMP_ADC_GO] = 1。
- 器件開啟上一步中配置的 CBFET,并比較 AUXCELL 測量值(通過 CB 通道)是否小于 VCELL 測量值(通過 VC 通道)的一半。僅會(huì)檢查已啟用的 CBFET。
- 當(dāng) ADC_STAT2[DRDY_CBFET] = 1 時(shí),CBFET 比較完成。
- 對其他 CBFET 測試設(shè)置重復(fù)該過程。為了關(guān)閉為該測試啟用的 CBFET,MCU 清除 DIAG_CBFET1 和 DIAG_CBFET2 寄存器,然后設(shè)置 [CBFET_CTRL_GO] = 1。否則,通過發(fā)送 [CB_PAUSE] = 0 退出 CB 暫停狀態(tài)將恢復(fù)常規(guī)均衡,從而關(guān)閉為該測試啟用的 CBFET 并在為均衡設(shè)置的 CBFET 上恢復(fù)。
主機(jī)檢查 FAULT_COMP_CBFET1 和 FAULT_COMP_CBFET2 寄存器以獲得比較結(jié)果。重復(fù)這些步驟以比較剩余的 CBFET。
ADC 比較中止條件:
在下面列出的無效條件下,器件不會(huì)啟動(dòng) CBFET 比較。當(dāng)比較中止時(shí),FAULT_COMP_MISC[COMP_ADC_ABORT] = 1,[DRDY_AUX_CEL] = 1,[DRDY_CBFET] = 1,并且 FAULT_COMP_CBFET1/2 = 0xFF。如果 [AUX_CELL_SEL4:0] 設(shè)置為鎖定在單個(gè)通道上,則在比較運(yùn)行中止時(shí) AUX_CELL_HI/LO 寄存器將被重置為默認(rèn)值 0x8000。
會(huì)阻止開始電芯電壓測量比較的無效條件或設(shè)置:
- 無效 [AUX_CELL_SEL] 設(shè)置,導(dǎo)致所選通道上沒有 AUX ADC 測量。AUX_CELL_HI/LO 寄存器保持默認(rèn)值。
- 選擇了高于 NUM_CELL 配置的通道。
- 無效的 BBVC_POSN 設(shè)置:
- 在 BBVC_POSN1/2 寄存器中啟用了相鄰?fù)ǖ馈?/li>
- 啟用了 BBVC_POSN2[CELL1]。
- 在 BBVC_POSN1/2 中選擇了兩個(gè)以上的通道。
- [AUX_CELL_SEL] 被鎖定到 BBVC_POSN1/2 中所選的任意通道。
- 主 ADC 或 AUX ADC 關(guān)閉或未設(shè)置為連續(xù)模式。
- CB 正在運(yùn)行且未處于暫停模式。
- 在 DIAG_CBFET_CTRL1/2 寄存器中啟用 8 個(gè)以上的 CBFET,或啟用兩個(gè)以上的連續(xù) CBFET。