ZHCSRX7 june 2023 BQ79616
PRODUCTION DATA
CRC 測試：
會對出廠寄存器和客戶 OTP 影子寄存器執(zhí)行 CRC 校驗，該校驗在后臺連續(xù)運行。CUST_CRC_RSLT_HI 和 CUST_CRC_RSLT_LO 寄存器保存當前器件計算出的 CRC 值。該值與 CRC 寄存器 CUST_CRC_HI 和 CUST_CRC_LO 中的客戶編程值進行比較。在更新 CRC 涵蓋的任何客戶 OTP 影子寄存器時，主機必須將新的 CRC 值更新至 CUST_CRC_HI 和 CUST_CRC_LO 寄存器。CRC 計算以與節(jié) 8.3.6.1.1.2.1.6中所述相同的方式（包括位流排序）并使用相同的多項式執(zhí)行。會定期對出廠空間和客戶空間進行 CRC 校驗和比較，并且在校驗完成后設置 DEV_STAT[CUST CRC_DONE] 和 [FACT_CRC_DONE] 位。如果該位已設置，則該位會保持設置狀態(tài)，直到通過讀取清除。
CRC 故障：
當 CUST_CRC_HI/LO 和 CUST_CRC_RSLT_HI/LO 不匹配時，會設置 FAULT_OTP[ CUST_CRC] 標志，直到該情況得到糾正。對出廠 NVM 空間的連續(xù)監(jiān)控以類似的方式與對客戶空間的監(jiān)控同時進行。當檢測到出廠寄存器更改時，會設置 FAULT_OTP[FACT_CRC] 標志。發(fā)生該故障時，主機應重置故障標志以查看故障是否仍然存在。如果故障仍然存在，則主機必須對該器件執(zhí)行復位操作。如果復位無法解決問題，則器件已損壞，不得使用。