ZHCSRX7 june 2023 BQ79616
PRODUCTION DATA
OV 和 UV 保護(hù)器具有多個由 OVUV_CTRL[OVUV_MODE1:0] 控制的運(yùn)行模式,表 8-7 匯總了這些運(yùn)行模式。為了啟動 OVUV 保護(hù)器,MCU 設(shè)置 OVUV_CTRL[OVUV_GO] = 1。
| [OVUV_MOD1:0] | 工作模式 | 說明 |
|---|---|---|
| 0b00 | 停止 OV 和 UV 保護(hù)器 | 停止 OV 和 UV 保護(hù)器 |
| 0b01 | 輪詢運(yùn)行 | OV 和 UV 保護(hù)器遍歷所有 VC 輸入。會根據(jù) OV 和 UV 閾值檢查有效的通道(圖 8-19)。 無論有效通道的數(shù)量有多少,輪詢周期時序始終相同。對于無效的 VC 通道,數(shù)字邏輯會簡單地忽略檢測結(jié)果。 UV 保護(hù)器檢測 UV_THRESH 和 VCB_DONE_THRESH。 |
| 0b10 | OV 和 UV BIST 運(yùn)行 (診斷用途,有關(guān)詳細(xì)信息,請參閱節(jié) 8.3.6.4) | OV 和 UV 比較器以及檢測路徑上的 BIST(內(nèi)置自檢)周期。 在該運(yùn)行期間,來自主 ADC 的 VCELL(VC 通道)ADC 測量以及通過 OVUV 保護(hù)器進(jìn)行的 OV 和 UV 檢測不可用。執(zhí)行 OVUV BIST 時,MCU 應(yīng)停止 ADC 測量。 |
| 0b11 | 單通道運(yùn)行 (診斷用途,有關(guān)詳細(xì)信息,請參閱節(jié) 8.3.6.4) | 用于檢查 OV 和 UV DAC。在該模式下,OV 和 UV 比較器被鎖定到單個 VC 輸入通道。通道被 OVUV_CTRL[OVUV_LOCK3:0] 鎖定。 |
如果 OVUV BIST 運(yùn)行正在進(jìn)行中,但 MCU 啟動 ADC,則 ADC 結(jié)果寄存器將保持為 0x8000。OVUV BIST 完成且經(jīng)過 tAFE_SETTLE 時間后,ADC 測量將恢復(fù)。
如果 ADC 正在運(yùn)行,但 MCU 啟動 OVUV BIST,則 ADC 結(jié)果寄存器將保持其最后一次測量值。OVUV BIST 完成且經(jīng)過 tAFE_SETTLE 時間后,ADC 測量更新將恢復(fù)
圖 8-20 OV 和 UV 輪詢模式