ZHCSZ01 August 2025 DRV8002-Q1
PRODUCTION DATA
當(dāng)半橋處于激活狀態(tài)時(shí),每個(gè) MOSFET 上的模擬電流保護(hù)電路會(huì)在硬短路事件期間關(guān)斷 MOSFET。如果輸出電流超過(guò)過(guò)流閾值 IOCP_OUTX 且持續(xù)時(shí)間超過(guò) tDG_OCP_HB,則會(huì)檢測(cè)到過(guò)流故障。相應(yīng)的輸出為 Hi-Z(鎖存行為),故障被鎖存到寄存器 (HB_STAT1) 中。如果 VPVDD > 在 PVDD_OV_MODE 中配置的 VPVDD_OV,則會(huì)禁用半橋。
對(duì)于半橋驅(qū)動(dòng)器的過(guò)流抗尖峰脈沖時(shí)間 tDG_OCP_HB,下表匯總了四個(gè)過(guò)流抗尖峰脈沖選項(xiàng)。
| OUTx_OCP_DG | 電壓限值 | 抗尖峰脈沖時(shí)間 |
|---|---|---|
| 00b | VPVDD < VPVDD_OV | 6μs |
| 01b | VPVDD < VPVDD_OV | 10μs |
| 10b | VPVDD < VPVDD_OV | 15 μs |
| 11b | VPVDD < 20V | 60μs |
| VPVDD > 20V | 15 μs |
要重新激活驅(qū)動(dòng)器,必須首先由 MCU 通過(guò)讀取狀態(tài)寄存器在寄存器中清除故障。下圖顯示了半橋的過(guò)流行為: