ZHCSXL5 December 2024 AFE5401-EP
PRODUCTION DATA
為了檢查 AFE 和接收器系統(tǒng)之間的接口,可以直接在 CMOS 輸出上對測試圖形進行編程。如表 7-19 所示,可以通過設(shè)置 TST_PAT_MODE 寄存器來選擇不同的測試圖形。
| TST_PAT_MODE | 說明 |
|---|---|
| 0 | 正常 ADC 輸出數(shù)據(jù) |
| 1 | SYNC 圖形 (D[11:0] = 111111000000) |
| 2 | 校正圖形 (D[11:0] = 010101010101) |
| 3 | 由 CUSTOM_PATTERN[11:0] 寄存器位確定的自定義圖形 |
| 4 | 所有 1s |
| 5 | 切換數(shù)據(jù)(輸出在全 0 和全 1 之間切換) |
| 6 | 所有 0s |
| 7 | 滿量程斜坡數(shù)據(jù) |