ZHCSZ14 October 2025 MCF8316D-Q1
PRODUCTION DATA
MCF8316D-Q1 提供 EEPROM 故障檢測(cè)功能,以防止器件在 EEPROM 寫入中斷(EEPROM 寫入期間出現(xiàn) UVLO)、EEPROM 老化等原因?qū)е?EEPROM 數(shù)據(jù)不匹配的情況下運(yùn)行。每當(dāng)發(fā)出 EEPROM 讀取命令時(shí),MCF8316D-Q1 都會(huì)執(zhí)行 CRC 和奇偶校驗(yàn)檢查 - 如果存在 CRC 或奇偶校驗(yàn)不匹配,則會(huì)識(shí)別 EEPROM 故障并根據(jù) EEP_FAULT_MODE 執(zhí)行操作。如果 EEP_FAULT_MODE 設(shè)置為 0b,nFAULT 會(huì)被拉至低電平、FET 處于高阻態(tài)狀態(tài),而 CONTROLLER_FAULT 和 EEPROM_ERR_STATUS 位會(huì)被設(shè)置為 1b,直到通過向 CLR_FLT 寫入 1b 來清除故障條件。如果 EEP_FAULT_MODE 設(shè)置為 1b,則會(huì)在 nFAULT 引腳和 CONTROLLER_FAULT 上報(bào)告此故障,并且 EEPROM_ERR_STATUS 位設(shè)置為 1b,但器件運(yùn)行 (FET) 會(huì)正常繼續(xù)。通過向 CLR_FLT 寫入 1b,可以清除故障報(bào)告(釋放 nFAULT 引腳,CONTROLLER_FAULT、EEPROM_ERR_STATUS 設(shè)置為 0b)。