ZHCUB80C August 2004 – July 2023 PGA309
- 1
- 使用前必讀
- 1引言
- 2詳細(xì)說明
- 3工作模式
- 4數(shù)字接口
- 5應(yīng)用背景
-
6寄存器說明
- 6.1 內(nèi)部寄存器概覽
- 6.2
內(nèi)部寄存器映射
- 6.2.1 寄存器 0：溫度 ADC 輸出寄存器（只讀，地址指針 = 00000）
- 6.2.2 寄存器 1：精細(xì)失調(diào)電壓調(diào)整（零 DAC）寄存器（讀取/寫入，地址指針 = 00001）
- 6.2.3 寄存器 2：精細(xì)增益調(diào)整（增益 DAC）寄存器（讀取/寫入，地址指針 = 00010）
- 6.2.4 寄存器 3：基準(zhǔn)控制和線性化寄存器（讀取/寫入，地址指針 = 00011）
- 6.2.5 寄存器 4：PGA 粗略失調(diào)電壓調(diào)整和增益選擇/輸出放大器增益選擇寄存器（讀取/寫入，地址指針 = 00100）
- 6.2.6 寄存器 5：PGA 配置和過量程/欠量程限制寄存器（讀取/寫入，地址指針 = 00101）
- 6.2.7 寄存器 6：溫度 ADC 控制寄存器（讀取/寫入，地址指針 = 00110）
- 6.2.8 寄存器 7：輸出使能計數(shù)器控制寄存器（讀取/寫入，地址指針 = 00111）
- 6.2.9 寄存器 8：警報狀態(tài)寄存器（只讀，地址指針 = 01000）
- A 外部 EEPROM 示例
- B 詳細(xì)方框圖
- C 術(shù)語表
- 修訂歷史記錄
A.1 PGA309 外部 EEPROM 示例
圖 7-1 中的 PGA309 電路配置在 PGA309EVM（評估模塊）中用于檢查 PGA309 的功能是否正常。表 7-1 詳細(xì)說明了 PGA309 的所需配置。增益和失調(diào)電壓調(diào)節(jié)如Example7-1 所示。圖 7-2 顯示了內(nèi)部 PGA309 16 位數(shù)據(jù)如何映射到外部 EEPROM 8 位地址位置。外部 EEPROM 值顯示在表 7-2 中，其中還詳細(xì)說明了如何為本示例計算 Checksum1 和 Checksum2。
圖 7-1 PGA309 外部 EEPROM 電路示例表 7-1 PGA309 外部 EEPROM 配置示例
| 參數(shù) | 所需設(shè)置 | 注釋 |
|---|---|---|
| VDIFF | 0V 至 33.67mV | 將 RTEST 從 0Ω 調(diào)整到 20Ω |
| VREF | 4.096V | 使用內(nèi)部 PGA309 基準(zhǔn) |
| VEXC | 3.4V | 使用線性化電路，范圍 0 (KEXC = 0.83)，Lin DAC = 0 |
| 粗略失調(diào)電壓 | -3.277mV | |
| 前端 PGA 增益 | 64 | |
| 增益 DAC | 1 | |
| 輸出放大器增益 | 2.4 | |
| 零 DAC | 100mV | |
| 過量程 | 3.876V | |
| 欠量程 | 0.245V | |
| VOUT 理想值 | -0.263V 至 +4.908V | 禁用過量程和欠量程 |
| VOUT 最終值 | 0.245V 至 3.876V | 啟用過量程和欠量程 |
| 故障檢測 | 外部比較器 | 啟用 |
| 故障檢測極性 | 正 | |
| 內(nèi)部比較器 | 禁用 | |
| 溫度 ADC | 內(nèi)部模式 | |
| 輸出使能計數(shù)器 | 設(shè)置為全零 | |
| EEPROM 溫度系數(shù) | 設(shè)置為所有溫度 ≤ +128°C，使用相同的增益 DAC 和零 DAC 設(shè)置 |