ZHCSX59A August 2024 – August 2025 TAS2120
PRODUCTION DATA
TAS2120 使用 ASI 時(shí)鐘自動(dòng)檢測(cè)功能，支持從工作到關(guān)斷以及從關(guān)斷到工作的靈活運(yùn)行模式轉(zhuǎn)換。當(dāng) MODE[1:0] 配置為“11”時(shí)，器件會(huì)根據(jù)應(yīng)用于 ASI 輸入引腳上的有效 ASI 時(shí)鐘信號(hào)（即 BCLK 和 FSYNC）在工作和軟件關(guān)斷狀態(tài)之間切換。如果在該模式下未檢測(cè)到 ASI 時(shí)鐘，器件將保持軟件關(guān)斷狀態(tài)，VDD 引腳上具有軟件關(guān)斷模式 IQ，直到檢測(cè)到有效的 BCLK 和 FSYNC 時(shí)鐘。一旦檢測(cè)到有效時(shí)鐘，器件就會(huì)在工作狀態(tài)下上電，直到時(shí)鐘有效或器件使用軟件或硬件關(guān)斷命令關(guān)斷。
該器件可以根據(jù) CLK_ERR_PWR_EN 的狀態(tài)在檢測(cè)到錯(cuò)誤的時(shí)鐘配置時(shí)檢測(cè)并生成中斷標(biāo)志。當(dāng)該位被設(shè)置為高電平時(shí)，器件會(huì)監(jiān)測(cè)時(shí)鐘引腳上的活動(dòng)并使用鎖存的中斷狀態(tài)寄存器標(biāo)記任何錯(cuò)誤。器件還可以根據(jù)相應(yīng)中斷屏蔽寄存器的狀態(tài)使用 IRQZ 引腳生成中斷。當(dāng)啟用錯(cuò)誤保護(hù)位時(shí)，如果檢測(cè)到時(shí)鐘錯(cuò)誤，器件將通過(guò)適當(dāng)?shù)年P(guān)斷時(shí)序自動(dòng)關(guān)斷，并盡可能地減少因時(shí)鐘無(wú)效而導(dǎo)致的任何咔嗒聲和砰砰聲。
當(dāng)器件處于關(guān)斷狀態(tài)時(shí)，可以延遲時(shí)鐘錯(cuò)誤檢測(cè)，以便為系統(tǒng)提供穩(wěn)定輸入時(shí)鐘所需的時(shí)間。時(shí)鐘錯(cuò)誤檢測(cè)中的該上電延遲由 CLK_HALT_TIMER 配置的內(nèi)部上電前時(shí)鐘錯(cuò)誤檢測(cè)計(jì)時(shí)器進(jìn)行控制。如果器件在 CLK_HALT_TIMER 到期結(jié)束時(shí)未檢測(cè)到有效時(shí)鐘，則會(huì)在 INT_LTCH4[2] 位上標(biāo)記上電前時(shí)鐘錯(cuò)誤，并根據(jù) INT_MASK4[2] 位的狀態(tài)在 IRQZ 引腳上生成相應(yīng)的中斷。當(dāng) MODE[1:0] 配置為“11”（ASI 模式喚醒）時(shí)，不建議使用值為“000”的 CLK_HALT_TIMER，它會(huì)阻止器件進(jìn)入軟件關(guān)斷模式，并在器件關(guān)斷時(shí)增大 VDD IQ。
一旦器件上電，就會(huì)根據(jù) CLK_ERR_PWR_EN 位的狀態(tài)持續(xù)監(jiān)測(cè)外部時(shí)鐘和內(nèi)部生成的時(shí)鐘。如果啟用，則會(huì)使用時(shí)鐘錯(cuò)誤狀態(tài)寄存器 INT_LTCH2[3] 位標(biāo)記外部或內(nèi)部時(shí)鐘中的任何錯(cuò)誤，并根據(jù) INT_MASK2[3] 的狀態(tài)在 IRQZ 引腳上生成相應(yīng)的中斷。
為了實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)靈活性，器件還會(huì)針對(duì)檢測(cè)到時(shí)鐘錯(cuò)誤的類型設(shè)置錯(cuò)誤狀態(tài)。器件還可以配置為針對(duì)任何特定類型的時(shí)鐘錯(cuò)誤在 IRQZ 引腳上生成中斷，而不是使用通用時(shí)鐘錯(cuò)誤中斷生成。下面的表 6-44 說(shuō)明了不同類型的時(shí)鐘錯(cuò)誤和相應(yīng)的狀態(tài)位以及中斷屏蔽寄存器位?？梢愿鶕?jù)檢測(cè)到的時(shí)鐘錯(cuò)誤類型設(shè)置下表中的一個(gè)或多個(gè)寄存器位。
如果器件由于任何類型的時(shí)鐘錯(cuò)誤而關(guān)斷，則可以在 MODE[1:0] 設(shè)置為“11”時(shí)嘗試自動(dòng)重新上電。
| CLK_ERR_PWR_EN | 設(shè)置 |
|---|---|
| 0 | 禁用 |
| 1 | 啟用（默認(rèn)設(shè)置） |
| CLK_HALT_TIMER[2:0] | 設(shè)置 |
|---|---|
| 000 | 禁用（無(wú)限時(shí)間）。 |
| 001 | 0.8ms（默認(rèn)） |
| 010 | 3.2ms |
| 011 | 34.1ms |
| 100 | 68.3ms |
| 101 | 256ms |
| 110 | 768ms |
| 111 | 1.3s |
| 時(shí)鐘錯(cuò)誤類型 | 說(shuō)明 | 狀態(tài)標(biāo)志寄存器位 | IRQZ 生成屏蔽位 |
|---|---|---|---|
| 時(shí)鐘錯(cuò)誤 | 有關(guān)任何內(nèi)部或外部時(shí)鐘配置錯(cuò)誤的時(shí)鐘錯(cuò)誤。該位將與在下表其余部分中檢測(cè)到的特定時(shí)鐘錯(cuò)誤一起設(shè)置，上電前時(shí)鐘錯(cuò)誤除外。 | INT_LTCH2[3] | INT_MASK2[3] |
| 上電前時(shí)鐘錯(cuò)誤 | 在 CLK_HALT_TIMER 結(jié)束時(shí)檢測(cè)到時(shí)鐘錯(cuò)誤后，在關(guān)斷模式期間檢測(cè)到的時(shí)鐘錯(cuò)誤。 | INT_LTCH4[2] | INT_MASK4[2] |
| 時(shí)鐘比率變化錯(cuò)誤 | 由于 FSYNC 與 SBCLK 比率動(dòng)態(tài)變化而檢測(cè)到的時(shí)鐘錯(cuò)誤。 | INT_LTCH2[2] | INT_MASK2[2] |
| Fs 變化錯(cuò)誤 | 由于 FSYNC 時(shí)鐘頻率動(dòng)態(tài)變化而檢測(cè)到的時(shí)鐘錯(cuò)誤。 | INT_LTCH2[1] | INT_MASK2[1] |
| Fs 無(wú)效錯(cuò)誤 | 由于 FSYNC 時(shí)鐘頻率不正確而檢測(cè)到的時(shí)鐘錯(cuò)誤。 | INT_LTCH2[0] | INT_MASK2[0] |
| 幀不同步 | 由于幀不同步而檢測(cè)到時(shí)鐘錯(cuò)誤。 | INT_LTCH2[5] | INT_MASK2[5] |
| 內(nèi)部 PLL 時(shí)鐘錯(cuò)誤 | 由于內(nèi)部產(chǎn)生的時(shí)鐘頻率錯(cuò)誤而檢測(cè)到的時(shí)鐘錯(cuò)誤。 | INT_LTCH2[4] | INT_MASK2[4] |
器件還具有一個(gè)數(shù)字看門(mén)狗計(jì)時(shí)器，可監(jiān)測(cè)內(nèi)部數(shù)字狀態(tài)機(jī)中的錯(cuò)誤，并在檢測(cè)到此類錯(cuò)誤時(shí)關(guān)斷器件。該錯(cuò)誤還會(huì)在 IRQZ 引腳上生成中斷并向主機(jī)器件報(bào)告錯(cuò)誤狀態(tài)。