ZHCSJU6C March 2019 – October 2019 TPS23881
PRODUCTION DATA.
命令 = 12h，帶 1 個(gè)數(shù)據(jù)字節(jié)，讀取/寫入
| 7 | 6 | 5 | 4 | 3 | 2 | 1 | 0 |
| C4M1 | C4M0 | C3M1 | C3M0 | C2M1 | C2M0 | C1M1 | C1M0 |
| R/W-0 | R/W-0 | R/W-0 | R/W-0 | R/W-0 | R/W-0 | R/W-0 | R/W-0 |
| 說明：R/W = 讀取/寫入；R = 只讀；-n = 復(fù)位后的值 |
| 位 | 字段 | 類型 | 復(fù)位 | 說明 | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 7-0 | CnM1–CnM0 | R/W | 0 | 每對位將配置每個(gè)通道的工作模式。
選擇如下： |
||||
| M1 | M0 | 工作模式 | ||||||
| 0 | 0 | 關(guān)閉 | ||||||
| 0 | 1 | 診斷/手動(dòng) | ||||||
| 1 | 0 | 半自動(dòng) | ||||||
| 1 | 1 | 自動(dòng) | ||||||
|
對于 4 線對有線端口，兩個(gè)通道必須設(shè)置為相同的工作模式。否則，端口將不會(huì)執(zhí)行發(fā)現(xiàn)，并且將忽略所有開啟命令。 |
||||||||
空白
關(guān)閉模式：
在關(guān)閉模式下，通道將關(guān)閉，既不執(zhí)行檢測也不執(zhí)行分級，與 DETE、CLSE 或 PWON 位無關(guān)。
下表描述了當(dāng)通道從任何其他工作模式切換到關(guān)閉模式時(shí)將清除的位：
| 寄存器 | 要復(fù)位的位 |
|---|---|
| 0x04 | CLSCn 和 DETCn |
| 0x06 | DISFn 和 PCUTn |
| 0x08 | STRTn 和 ILIMn |
| 0x0A/B | PCUTnn |
| 0x0C-0F | 請求的分級和檢測 |
| 0x10 | PGn 和 PEn |
| 0x14 | CLEn 和 DETEn |
| 0x1C | ACn 和 CCnn |
| 0x1E-21 | 2P 管制設(shè)置為 0xFFh |
| 0x24 | PFn |
| 0x2A-2B | 4P 管制設(shè)置為 0xFFh |
| 0x2D | NLMnn、NCTnn、4PPCTnn 和 DCDTnn |
| 0x30-3F | 通道電壓和電流測量 |
| 0x40 | 2xFBn |
| 0x44 - 47 | 檢測電阻測量 |
| 0x4C-4F | 分配的分級和先前的分級 |
| 0x51-54 | Autoclass 測量 |
空白
NOTE
更改為關(guān)閉模式后，可能需要 5ms 以上的時(shí)間才能清除所有寄存器。
只會(huì)清除與設(shè)為關(guān)閉模式的通道/端口（“n”）相關(guān)的位。與仍然保持工作狀態(tài)的通道/端口相關(guān)的位將不會(huì)改變。
如果 PGn 或 PEn 位從 1 更改為 0，則將在電源事件寄存器 0x02h 中設(shè)置相應(yīng)的 PGCn 和 PECn 位。
此外，從半自動(dòng)模式更改為手動(dòng)/診斷模式或關(guān)閉模式將會(huì)取消任何進(jìn)行中的冷卻期。
空白
診斷/手動(dòng)模式：
在手動(dòng)/診斷模式下，不會(huì)自動(dòng)更改狀態(tài)。在提供 DETE、CLSE（0x14h 或 0x18h）或 PWON 命令之前，通道將保持空閑狀態(tài)。在設(shè)置 DETE 和/或 CLSE 位時(shí)，通道將在相應(yīng)的通道上執(zhí)行奇異檢測和/或分級周期。
空白
NOTE
設(shè)置寄存器 0x19 中的 PWONn 位會(huì)使該通道立即開啟。
對于非手動(dòng)/診斷模式下受電的端口/通道，不會(huì)為其指定分配的分級。通常根據(jù)分配的分級結(jié)果配置的任何設(shè)置（如端口功率管制和 1x/2x 折返選擇）都需要由用戶手動(dòng)配置。
對于 4 線對有線端口（0x29 中的 4PWnn 位 = 1）：
僅在一個(gè)通道上設(shè)置 DETE 或 CLSE 位將導(dǎo)致僅在該通道上進(jìn)行檢測和/或分級，并且不會(huì)執(zhí)行連接檢查。
在同一 I2C 運(yùn)行期間設(shè)置兩個(gè)通道的 DETE 位將導(dǎo)致在兩個(gè)通道上完成檢測周期，如果檢測結(jié)果有效，還將完成連接檢查。
在同一 I2C 運(yùn)行期間設(shè)置兩個(gè)通道的 CLSE 位將導(dǎo)致在兩個(gè)通道上進(jìn)行交錯(cuò)分級測量
NOTE
設(shè)置寄存器 0x19 中的 PWONn 位會(huì)使該通道立即開啟。
NOTE
在手動(dòng)/診斷模式下加電的 4 線對端口的直流斷開將在獨(dú)立通道中發(fā)生。因此，如果任一通道電流降至 VIMIN 以下的時(shí)間長于 tMPDO，則該通道將被禁用，并且將生成斷開故障（寄存器 0x06/7 中的 DISFn 位）。
| CLEn | DETn | PWONn | 通道工作模式 |
|---|---|---|---|
| 0 | 0 | 0 | 空閑 |
| 0 | 1 | 0 | 單次檢測測量（對于 4P 有線端口，如果兩個(gè)通道都設(shè)置了 DETE 位，則完成連接檢查） |
| 1 | 0 | 0 | 單次分級測量 |
| 1 | 1 | 0 | 單次檢測和分級測量完成。（對于 4P 有線端口，如果兩個(gè)通道都設(shè)置了 DETE 和 CLE 位，則完成連接檢查） |
| - | - | 1 | 通道立即開啟，不執(zhí)行任何檢測和分級 |
半自動(dòng)模式：
在半自動(dòng)模式下，只要通道未受電，就可以根據(jù)是否設(shè)置了相應(yīng)的分級和檢測使能位（寄存器 0x14h）來連續(xù)執(zhí)行檢測和分級。
| CLEn | DETn | 通道工作模式 |
|---|---|---|
| 0 | 0 | 空閑 |
| 0 | 1 | 僅循環(huán)檢測測量 |
| 1 | 0 | 空閑 |
| 1 | 1 | 循環(huán)檢測和分級測量 |
NOTE
如果兩個(gè)通道配置為 4 線對有線端口，一旦在其中一個(gè)通道上看到有效的檢測結(jié)果，便會(huì)執(zhí)行連接檢查測量
對于僅有一個(gè)通道受電的 4 線對雙特征 PD，如果在 0x14h 內(nèi)為未受電的通道設(shè)置了 DETE 和 CLE 位，則該通道將執(zhí)行繼續(xù)檢測和分級。
空白
自動(dòng)模式：
在自動(dòng)模式下，通道將根據(jù) 0x29 中的端口功率分配設(shè)置來自動(dòng)啟動(dòng)任何有效的檢測和分級特征。在設(shè)置 DETE 和 CLSE（0x14 或 0x18）或發(fā)出 PWON 命令之前，通道將保持空閑狀態(tài)。
在自動(dòng)模式下設(shè)置 DETE 和 CLE 或發(fā)送 PWON 命令之前，需要根據(jù)系統(tǒng)要求和配置來配置以下寄存器：
| 寄存器 | 位 |
|---|---|
| 0x26 | 端口重映射 |
| 0x29 | 4 線對有線和端口功率分配 |
| 0x50 | 自動(dòng)交流使能 |
| 0x55 | 備用浪涌和受電折返使能 |
NOTE
在自動(dòng)模式下設(shè)置 DETE 和 CLE 位后對這些寄存器進(jìn)行的更改可能會(huì)導(dǎo)致意外或不符合 IEEE 標(biāo)準(zhǔn)的行為。
如果需要更改默認(rèn)行為（因?yàn)檫@些值是在加電期間根據(jù)端口配置和分配的 PD 分級結(jié)果在內(nèi)部設(shè)置的），則可以在開啟后配置或更改以下寄存器：
| 寄存器 | 位 |
|---|---|
| 0x1E-21 | 2 線對管制 |
| 0x2A-2B | 4 線對管制 |
| 0x2D | 4P Pcut 使能和直流斷開閾值位 |
| 0x40 | 2x 折返使能 |