ZHCSQC0C June 2022 – April 2025 ADC12DJ5200-SP
PRODUCTION DATA
ADC 內(nèi)核可能會在樣本中產(chǎn)生位誤差,通常稱為代碼誤差 (CER) 或稱為閃碼,這是由不理想的比較器限制引起的元穩(wěn)定性導致的。該器件使用獨特的 ADC 架構(gòu),與傳統(tǒng)管道、閃存或逐次逼近型寄存器 (SAR) ADC 相比,該架構(gòu)本身能顯著改善代碼誤差率。在等效采樣率下,該器件的代碼誤差率比其他架構(gòu)可實現(xiàn)的誤差率高出多個數(shù)量級,從而顯著提高了信號可靠性。