ZHCSTG4A October 2023 – April 2025 ADC12DJ5200-SEP
PRODUCTION DATA
ADC12DJ5200-SEP 有兩種校準(zhǔn)模式:前臺校準(zhǔn)和后臺校準(zhǔn)。啟動前臺校準(zhǔn)時(shí),ADC 會自動離線,在校準(zhǔn)時(shí),輸出數(shù)據(jù)變?yōu)橹虚g碼(二進(jìn)制補(bǔ)碼中的 0x000)。后臺校準(zhǔn)使 ADC 能夠繼續(xù)正常運(yùn)行,同時(shí)通過交換不同的 ADC 內(nèi)核來代替 ADC 內(nèi)核,在后臺校準(zhǔn) ADC 內(nèi)核。前臺和后臺校準(zhǔn)模式下都提供了額外的失調(diào)電壓校準(zhǔn)功能。此外,可以修整許多 ADC 參數(shù)以優(yōu)化用戶系統(tǒng)中的性能。
ADC12DJ5200-SEP 由六個(gè)子 ADC 組成,每個(gè)子 ADC 稱為一個(gè)組,兩個(gè)組 組成一個(gè) ADC 內(nèi)核。組以異相采樣方式進(jìn)行采樣,因此每個(gè) ADC 內(nèi)核都是雙向交錯(cuò)的。六個(gè)組構(gòu)成三個(gè) ADC 內(nèi)核,稱為 ADC A、ADC B 和 ADC C。在前臺校準(zhǔn)模式下,ADC A 對 INA± 進(jìn)行采樣,ADC B 在雙通道模式下對 INB± 進(jìn)行采樣,ADC A 與 ADC B 在單通道模式下對 INA±(或 INB±)進(jìn)行采樣。在后臺校準(zhǔn)模式下,第三個(gè) ADC 內(nèi)核 ADC C 會定期交換,用于在不中斷操作的情況下對 ADC A 和 ADC B 進(jìn)行校準(zhǔn)。圖 6-25 提供了校準(zhǔn)系統(tǒng)圖,包括標(biāo)記構(gòu)成每個(gè) ADC 內(nèi)核的組。執(zhí)行校準(zhǔn)時(shí),會根據(jù)內(nèi)部生成的校準(zhǔn)信號校準(zhǔn)每組的線性度、增益和偏移電壓。校準(zhǔn)期間,前臺和后臺校準(zhǔn)都可以驅(qū)動模擬輸入,使用偏移校準(zhǔn)(OS_CAL 或 BGOS_CAL)的情況除外,直流附近不得有任何信號(或混疊信號),才能正確估算偏移(請參閱偏移校準(zhǔn) 部分)。
圖 6-25 ADC12DJ5200-SEP 校準(zhǔn)系統(tǒng)方框圖除了校準(zhǔn)之外,許多 ADC 參數(shù)是用戶可控制的,為了達(dá)到最佳性能可進(jìn)行修整。這些參數(shù)包括輸入偏移電壓,ADC 增益、交錯(cuò)時(shí)序和輸入端接電阻。默認(rèn)修整值在出廠時(shí)被編程為每個(gè)器件的唯一值,這些器件在測試系統(tǒng)工作條件下被確定為最佳值。用戶可以從修整寄存器中讀取出廠編程值,并根據(jù)需要進(jìn)行調(diào)整。根據(jù)正在被采樣的輸入(INA±、INB±、INC± 或 IND)、正在被修整的組或正在被修整的 ADC 內(nèi)核,對控制修整的寄存器字段進(jìn)行標(biāo)記。用戶不會隨著運(yùn)行條件的變化而更改修整值,但用戶可以這樣做來獲得最佳性能。由于工藝差異,任何定制修整都必須基于每個(gè)器件的情況,這意味著所有器件都沒有全局最佳設(shè)置。有關(guān)可用的修整參數(shù)和相關(guān)寄存器信息,請參閱 修整 部分。