1 引言

在較低速度 (<100kSPS) 下以高精度（>16 位）同時(shí)測(cè)量許多超低的電流電平 (<1μA) 時(shí)，工程師可以使用兩種解決方案，即德州儀器 (TI) AFE 系列 X 射線模擬前端和 DDC 系列模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC)。盡管最初設(shè)計(jì)用于醫(yī)學(xué)成像應(yīng)用，但這些器件也可用于儀器儀表、體外診斷應(yīng)用以及任何其他具有大量光電二極管或同時(shí)測(cè)量許多電壓的應(yīng)用。

在這兩個(gè)器件系列中，測(cè)量的電流都不是浮動(dòng)（分流）的，而是從固定的直流電平吸收或拉?。▍⒁?jiàn)圖 2-1 和圖 3-1），因?yàn)檩斎胪ㄟ^(guò)放大器的反饋?zhàn)饔锰摱讨聊骋浑妷?，與分立跨阻放大器的情況一樣。然而，與通過(guò)乘以電阻（在輸入放大器的反饋中）將電流轉(zhuǎn)換為電壓的跨阻放大器不同，這兩個(gè)系列都將積分器作為第一級(jí)。

這兩個(gè)器件系列都將大部分所需元件集成到單個(gè) IC 中，從而實(shí)現(xiàn)從電流輸入到數(shù)字輸出（兩種情況下都是串行流）的功能。此功能可以調(diào)整滿量程（輸入增益）以優(yōu)化特定應(yīng)用的信噪比，甚至將相同的解決方案用于不同應(yīng)用來(lái)創(chuàng)建平臺(tái)設(shè)計(jì)。除了節(jié)省布板空間外，這種集成水平（具有由這些器件的數(shù)據(jù)表設(shè)置和支持的許多系統(tǒng)級(jí)規(guī)格）極大地簡(jiǎn)化了量產(chǎn)中的設(shè)計(jì)工作和測(cè)試策略，從而縮短了上市時(shí)間并降低了開(kāi)發(fā)成本。

盡管許多應(yīng)用都可以使用任一器件，但它們之間的差異非常顯著，某一器件會(huì)更適合某一種給定的應(yīng)用。在本文中，我們將解釋原因。