AFE3256

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適用于動態(tài)和半動態(tài) X 射線平板檢測器的 256 通道模擬前端 (AFE)

產(chǎn)品詳情

Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
COF (TFU) 320 1064 mm2 38 x 28 COF (TFV) 315 831.84 mm2 48 x 17.33
  • 256 通道
  • 片上 16 位 ADC
  • 高性能：
    • 噪聲：440 個電子 RMS（1.2pC 輸入電荷范圍）
    • 低相關(guān)噪聲
    • 全通道積分非線性：16 位時為 ±2 LSB
    • 掃描時間：< 16μs 至 204.8μs
  • 集成：
    • 可編程滿量程輸入電荷量范圍：0.3pC 至 12.5pC，分辨率為 0.3pC
    • 內(nèi)部時序發(fā)生器 (TG)
    • 內(nèi)置相關(guān)雙采樣器
    • 軟件可編程電子或空穴積分模式
    • 流水線式“集成和讀取”，用于提高集成期間的吞吐量數(shù)據(jù)讀取
    • 串行 LVDS 輸出
    • 片上溫度傳感器
  • 簡單電源方案：
    • 1.85V 單電源供電
  • 多種功率模式，功耗范圍為 1mW/通道至 2mW/通道
  • 省電模式：睡眠和待機(jī)
  • 分箱模式支持
  • 定制 Chip-On-Film (COF) 封裝
  • 256 通道
  • 片上 16 位 ADC
  • 高性能：
    • 噪聲：440 個電子 RMS（1.2pC 輸入電荷范圍）
    • 低相關(guān)噪聲
    • 全通道積分非線性：16 位時為 ±2 LSB
    • 掃描時間：< 16μs 至 204.8μs
  • 集成：
    • 可編程滿量程輸入電荷量范圍：0.3pC 至 12.5pC，分辨率為 0.3pC
    • 內(nèi)部時序發(fā)生器 (TG)
    • 內(nèi)置相關(guān)雙采樣器
    • 軟件可編程電子或空穴積分模式
    • 流水線式“集成和讀取”，用于提高集成期間的吞吐量數(shù)據(jù)讀取
    • 串行 LVDS 輸出
    • 片上溫度傳感器
  • 簡單電源方案：
    • 1.85V 單電源供電
  • 多種功率模式，功耗范圍為 1mW/通道至 2mW/通道
  • 省電模式：睡眠和待機(jī)
  • 分箱模式支持
  • 定制 Chip-On-Film (COF) 封裝

AFE3256 是一款 256 通道模擬前端 (AFE)，旨在滿足基于平板檢測器 (FPD) 的數(shù)字 X 射線系統(tǒng)的要求。此器件包括 256 個集成器、帶雙電源的相關(guān)雙采樣器 (CDS) 和 256:2 模擬多路復(fù)用器。該器件還具有兩個 16 位逐次逼近寄存器 (SAR) 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC)。來自 ADC 的串行數(shù)據(jù)采用低壓差分信令 (LVDS) 格式。

該器件通常也稱為讀出集成電路 (ROIC)，可使用多種功耗模式和系統(tǒng)內(nèi)調(diào)試選項(xiàng)等特性來優(yōu)化整體系統(tǒng)性能。

睡眠和待機(jī)模式能夠大幅降低功耗，這對于電池供電型系統(tǒng)至關(guān)重要。

AFE3256 是一款 256 通道模擬前端 (AFE)，旨在滿足基于平板檢測器 (FPD) 的數(shù)字 X 射線系統(tǒng)的要求。此器件包括 256 個集成器、帶雙電源的相關(guān)雙采樣器 (CDS) 和 256:2 模擬多路復(fù)用器。該器件還具有兩個 16 位逐次逼近寄存器 (SAR) 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC)。來自 ADC 的串行數(shù)據(jù)采用低壓差分信令 (LVDS) 格式。

該器件通常也稱為讀出集成電路 (ROIC)，可使用多種功耗模式和系統(tǒng)內(nèi)調(diào)試選項(xiàng)等特性來優(yōu)化整體系統(tǒng)性能。

睡眠和待機(jī)模式能夠大幅降低功耗，這對于電池供電型系統(tǒng)至關(guān)重要。
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* 數(shù)據(jù)表 AFE3256 用于數(shù)字 X 射線平板檢測器的 256 通道模擬前端 數(shù)據(jù)表 (Rev. A) PDF | HTML 英語版 (Rev.A) PDF | HTML 2024年 8月 7日
證書 AFE3256EVM EU Declaration of Conformity (DoC) 2023年 9月 18日
模擬設(shè)計(jì)期刊 選擇多通道超低電流測量 IC PDF | HTML 英語版 PDF | HTML 2022年 1月 20日

設(shè)計(jì)和開發(fā)

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評估板

AFE3256EVM — AFE3256 適用于 X 射線平板檢測器的 256 通道模擬前端 (AFE) 評估模塊

AFE3256 評估模塊 (EVM) 用于評估 AFE3256 器件，后者是一款采用 Chip-On-Flex (COF) 封裝的低功耗、低噪聲電荷讀取 IC（電荷數(shù)字轉(zhuǎn)換器）。該 EVM 包含一塊模擬電路板，可與 TSWDC155EVM (FPGA EVM) 無縫集成以進(jìn)行數(shù)據(jù)采集。該 EVM 包括所有必要的控制信號和板載電源，大大降低了對外部設(shè)備的需求。此 EVM 還包括適用于 Microsoft? Windows? 的易于使用的軟件，支持快速評估器件特性和性能。

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AFE3256-DESIGN — AFE3256 design files

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支持的產(chǎn)品和硬件

支持的產(chǎn)品和硬件

產(chǎn)品
數(shù)字 X 射線 AFE
AFE3256 — 適用于動態(tài)和半動態(tài) X 射線平板檢測器的 256 通道模擬前端 (AFE)
模擬工具

PSPICE-FOR-TI — PSpice? for TI 設(shè)計(jì)和仿真工具

PSpice? for TI 可提供幫助評估模擬電路功能的設(shè)計(jì)和仿真環(huán)境。此功能齊全的設(shè)計(jì)和仿真套件使用 Cadence? 的模擬分析引擎。PSpice for TI 可免費(fèi)使用，包括業(yè)內(nèi)超大的模型庫之一，涵蓋我們的模擬和電源產(chǎn)品系列以及精選的模擬行為模型。

借助?PSpice for TI 的設(shè)計(jì)和仿真環(huán)境及其內(nèi)置的模型庫，您可對復(fù)雜的混合信號設(shè)計(jì)進(jìn)行仿真。創(chuàng)建完整的終端設(shè)備設(shè)計(jì)和原型解決方案，然后再進(jìn)行布局和制造，可縮短產(chǎn)品上市時間并降低開發(fā)成本。?

在?PSpice for TI 設(shè)計(jì)和仿真工具中，您可以搜索 TI (...)
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  • 鑒定摘要
  • 持續(xù)可靠性監(jiān)測
包含信息：
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