ZHCSIF4D June 2018 – September 2022 TMP117
PRODUCTION DATA
請(qǐng)參考 PDF 數(shù)據(jù)表獲取器件具體的封裝圖。
該器件包含一個(gè)用戶可編程 EEPROM，具有兩種用途：
復(fù)位時(shí)，該器件會(huì)執(zhí)行 POR 序列，將 EEPROM 中編程的值加載到相應(yīng)的寄存器映射位置。這個(gè)過(guò)程大約需要 1.5ms。上電序列完成后，器件將按照從 EEPROM 加載的配置參數(shù)開(kāi)始運(yùn)行。在這個(gè)初始 POR 期間，對(duì)限值寄存器或配置寄存器執(zhí)行的任何 I2C 寫入都將被忽略。器件在上電期間仍然可以執(zhí)行 I2C 讀取事務(wù)。執(zhí)行 POR 序列時(shí)，將設(shè)置 EEPROM 解鎖寄存器中的 EEPROM_Busy 狀態(tài)標(biāo)志。
如表 7-3 所示，在生產(chǎn)過(guò)程中，將使用復(fù)位值對(duì) TMP117 中的 EEPROM 進(jìn)行編程。Topic Link Label7.5.1.2 部分介紹了如何更改這些值。在生產(chǎn)過(guò)程中，還會(huì)在通用 EEPROM 位置中編程一個(gè)唯一 ID。這個(gè)唯一 ID 用于支持 NIST 可追溯性。TMP117 器件在生產(chǎn)調(diào)試階段經(jīng)過(guò) 100% 測(cè)試，可通過(guò) NIST 進(jìn)行追溯，且使用經(jīng) ISO/IEC 17025 認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)的設(shè)備進(jìn)行了驗(yàn)證。如果不需要 NIST 可追溯性，可僅對(duì)通用 EEPROM[4:1] 位置進(jìn)行重新編程。