ZHCSCZ5F December 2013 – August 2025 LMK00334
PRODUCTION DATA
LMK00334 具有一個(gè)積分晶體振蕩器電路,可支持基本模式 AT 切割晶體。晶體接口如圖 8-5 所示。
圖 8-5 晶體接口負(fù)載電容 (CL) 取決于晶體,但通常約為 18pF 至 20pF。雖然為晶體指定了 CL,但器件的 OSCin 輸入電容(典型值 CIN = 1pF)和 PCB 雜散電容(CSTRAY 約為 1pF 到 3pF)會(huì)影響分立式負(fù)載電容值 C1 和 C2。
對于并聯(lián)諧振電路,分立式電容值可按如下方式計(jì)算:
通常,C1 = C2 以獲得最佳對稱性,因此可以僅使用 C1 重寫方程式 1:
最后,求解 C1:
電氣特性 為晶體接口規(guī)格提供了驗(yàn)證晶體啟動(dòng)的條件,但電氣特性 未規(guī)定晶體功率耗散。設(shè)計(jì)人員必須確認(rèn)晶體功率耗散未超過晶體制造商指定的最大驅(qū)動(dòng)電平。過度驅(qū)動(dòng)晶體會(huì)導(dǎo)致過早老化、頻率移位,并最終導(dǎo)致故障。驅(qū)動(dòng)電平必須保持在足以啟動(dòng)和保持穩(wěn)態(tài)運(yùn)行所需的電平。
晶體中耗散的功率 PXTAL 可通過以下公式計(jì)算:
其中
IRMS 可以通過電流探頭(例如 Tektronix CT-6或等效器件)進(jìn)行測量,該探頭放在連接到 OSCout 的晶體引腳上(振蕩電路處于激活狀態(tài))。
如圖 8-5 所示,必要時(shí)可以使用外部電阻器 RLIM 限制晶體驅(qū)動(dòng)電平。如果所選晶體中耗散的功率高于在 RLIM 短接時(shí)為晶體規(guī)定的驅(qū)動(dòng)電平,則必須使用更大的電阻值以避免過驅(qū)晶體。但是,如果晶體中耗散的功率低于 RLIM 短接時(shí)的驅(qū)動(dòng)電平,則 RLIM 可以使用零值。作為起始值,RLIM 的建議值為 1.5k?。