ZHCSZ26 October 2025 LM251772-Q1
PRODUCTION DATA
為確保 NVM 數(shù)據(jù)完整性,器件采用 CRC 算法為存儲(chǔ)在器件 NVM 中的數(shù)據(jù)生成校驗(yàn)和。
生產(chǎn)編程過程會(huì)自動(dòng)生成校驗(yàn)和并將其存儲(chǔ)到單獨(dú)的 NVM 寄存器中。
在 NVM 啟動(dòng)階段之后,CRC 算法會(huì)將加載的寄存器的校驗(yàn)和與生產(chǎn)測(cè)試期間生成并存儲(chǔ)在 NVM 寄存器中的校驗(yàn)和進(jìn)行比較。如果這兩個(gè)值不相等,則不允許器件退出 CONV_OFF 狀態(tài)。