- 器件狀態(tài)：運(yùn)行
- 機(jī)制和閾值：即使發(fā)生了硬短路事件，每個(gè) MOSFET 上的模擬電流限制電路也會(huì)限制器件輸出的峰值電流。如果輸出電流超過(guò)過(guò)流閾值 IOCP 且持續(xù)時(shí)間超過(guò) tOCP，則會(huì)檢測(cè)到過(guò)流故障。
- 操作：
- nFAULT 引腳置位為低電平
- 反應(yīng)基于模式選擇：
- PH/EN 或 PWM 模式 - 兩個(gè) OUTx 均為高阻態(tài)
- 獨(dú)立模式 - 受影響的半橋 OUTx 為高阻態(tài)
- 對(duì)于 GND 短路故障（在高側(cè) FET 上檢測(cè)到過(guò)電流），即使 FET 已禁用，IPROPI 引腳也會(huì)繼續(xù)上拉至 VIPROPI_LIM。對(duì)于 HW 型號(hào)，這有助于將運(yùn)行狀態(tài)下的 GND 短路故障與其他故障類型區(qū)分開(kāi)來(lái)，因?yàn)?IPROPI 引腳被拉高，而 nFAULT 引腳被置位為低電平。
- 可基于 tRETRY 和 tCLEAR 在鎖存設(shè)置和重試設(shè)置之間配置反應(yīng)
- 用戶可以在 IPROPI 引腳上添加一個(gè) 10nF 至 100nF 范圍內(nèi)的電容器，以維持在啟用內(nèi)部 ITRIP 調(diào)節(jié)時(shí)出現(xiàn)負(fù)載短路的情況下進(jìn)行 OCP 檢測(cè)。如果是短路中有足夠電感的負(fù)載短路，則會(huì)在 OCP 檢測(cè)之前觸發(fā) ITRIP 調(diào)節(jié)，從而導(dǎo)致器件缺少短路檢測(cè)，情況尤其如此。為了維持 OCP 檢測(cè)在此競(jìng)態(tài)條件下勝出，IPROPI 引腳上添加的小電容會(huì)使 ITRIP 調(diào)節(jié)環(huán)路減慢，使 OCP 檢測(cè)電路能夠按預(yù)期運(yùn)行。
SPI 型號(hào)提供可配置的 IOCP 電平和 tOCP 濾波時(shí)間。有關(guān)這些設(shè)置，請(qǐng)參閱 CONFIG4 寄存器。