PHY 層包含用于生成眼圖的功能，并支持多種不同的模式（如需模式列表，請參閱 ES 寄存器）。以下各節(jié)介紹了如何從器件生成眼圖掃描數(shù)據(jù)以及一些構(gòu)建眼圖的方法。
- 按照 DUC 模式的啟動過程中的步驟，為 JESD204C 運行配置器件。設(shè)置 JESD_EN=1 后返回此處。既可以使用 JESD204C 位流運行眼圖掃描，也可以使用通用 PRBS 輸入激勵來運行。眼圖掃描同時在所有已啟用的物理通道上運行。
- 將 ES 編程為所需的眼圖掃描模式。
- 如果 ES 小于 8，則必須將 ESVO 編程為所需的電壓偏移。在其他模式下，眼圖掃描邏輯會自動調(diào)節(jié)眼圖掃描采樣器的失調(diào)電壓。
- 將 ESPO 編程為所需的相位偏移。
- 將 ES_BIT_SELECT 編程為 0 至 19 之間的值。每 20 個接收位（抽取因子為 20）進行一次眼圖掃描分析。ES_BIT_SELECT 用于調(diào)節(jié)該抽取相位。對于隨機激勵，這不會影響結(jié)果。如果輸入具有重復模式，這可能會影響結(jié)果。
- 將 ESLEN 編程為所需的樣本數(shù)。設(shè)置越高，結(jié)果越一致。
- 設(shè)置 ECOUNT_CLR = 1，然后設(shè)置 ECOUNT_CLR 以清除錯誤計數(shù)器。建議執(zhí)行此步驟，但如果需要，則可以跳過此步驟（例如，將來自多個眼圖掃描運行的計數(shù)相加）。如果不使用 ECOUNT（對于 ES 為 8 或更大的模式），也可以跳過此設(shè)置。
- 編程 ESRUN = 1 以開始掃描。
- 輪詢 ESDONE，直到 ESDONE 為您要運行眼圖掃描的每個通道返回 1。
- 如果所選的眼圖掃描模式修改了眼圖掃描電壓偏移（內(nèi)部/外部/平均模式），則讀取 ESVO_S 以獲得內(nèi)部/外部/平均眼圖邊界。對于其他眼圖掃描模式，則讀取 ECOUNT 以返回記錄的不匹配（或匹配）數(shù)量。
- 編程設(shè)定 ESRUN = 0。
- 返回至步驟 2，以運行另一個眼圖掃描數(shù)據(jù)收集過程。在步驟 2 到 12 的多次迭代期間，接收器可以保持啟用狀態(tài)。
有兩種基本方法可以使用眼圖掃描功能構(gòu)建眼圖。
- 1.使用 ESVO_S 的快速方法：
- 對 ESPO 的每個有效值重復上述過程。對于 ESPO 的每個值，運行 0 和 1 的內(nèi)眼分析。這會找到 ESPO 的每個值的最大零 (ESVOmax0) 和最小一 (ESVOmin1)。
- ESVOmax0 和 ESVOmin1（含）之間的所有眼圖單元均為黑色，其他單元均為白色。
- 通過包括外部和/或平均分析，可以將其他詳細信息添加到眼圖中（請參閱 ES）。例如，通過平均分析生成的 ESVO_S 值可以標為紅色，而包括內(nèi)部分析值和外部分析值在內(nèi)的所有其他值都標為白色。
- 使用 ECOUNT 的詳細方法：
- 選擇一種可以對不匹配問題進行計數(shù)的眼圖掃描模式。對 ESVO 和 ESPO 的每個有效值重復上述步驟。
- 每次運行后，記錄 ECOUNT 值（每次運行前復位 ECOUNT）。
- 每次眼圖掃描對應于眼圖的一個單元。ESPO 是單元的 x 坐標。ESVO 是單元的 y 坐標。單元的強度與 ECOUNT/Nsamples 成正比，其中 Nsamples 是每次運行所分析的樣本數(shù)量（由 ESLEN 確定）。
- 這種方法需要更多的時間來運行，但可以提供更精細的眼圖。