SYSREF 窗口化塊用于首先檢測 SYSREF 相對于輸入時(shí)鐘 CLK± 上升沿的位置。根據(jù)窗口信息，選擇最優(yōu)的 SYSREF 采樣時(shí)間，以盡可能提高相對于輸入時(shí)鐘的建立和保持時(shí)序裕度。在很多情況下，單個 SYSREF 采樣位置 SYSREF_SEL 足以滿足所有系統(tǒng)（器件間的差異）和條件（溫度和電壓差異）的時(shí)序要求。但是，系統(tǒng)也可以使用此功能來擴(kuò)展計(jì)時(shí)窗口（方法是在工作條件發(fā)生變化時(shí)跟蹤 SYSREF 的移動），或者在生產(chǎn)測試時(shí)消除系統(tǒng)間的差異（方法是為每個系統(tǒng)在標(biāo)稱條件下尋找唯一的更優(yōu)值）。

本節(jié)介紹了 SYSREF 窗口化塊的正確用法（SYSREF_RECV_SLEEP 必須編程為 0）。首先，將器件時(shí)鐘和 SYSREF 應(yīng)用于器件。SYSREF 相對于器件時(shí)鐘周期的位置將被確定并存儲在 SYSREF_POS 字段中。SYSREF_POS 的每個位代表一個潛在的 SYSREF 采樣位置。如果 SYSREF_POS 中的位設(shè)置為 1，則相應(yīng)的 SYSREF 采樣位置可能存在建立或保持時(shí)間違例。確定有效的 SYSREF 采樣位置（SYSREF_POS 的位置設(shè)置為 0）后，可以通過將 SYSREF_SEL 設(shè)置為對應(yīng)于該 SYSREF_POS 位置的值來選擇所需的采樣位置。通常，選擇兩個建立和保持實(shí)例之間的中間采樣位置。理想情況下，SYSREF_SEL 在系統(tǒng)的標(biāo)稱工作條件（溫度和電源電壓）下確定，以便提供最大裕度來適應(yīng)工作條件的變化。此過程可在最終測試中執(zhí)行，并且可存儲更優(yōu) SYSREF_SEL 設(shè)置，以便在每次系統(tǒng)上電時(shí)使用。此外，SYSREF_POS 可用于通過掃描系統(tǒng)溫度和電源電壓來表征系統(tǒng)工作條件下 CLK± 和 SYSREF± 之間的偏斜。對于 CLK± 到 SYSREF± 偏斜有較大變化的系統(tǒng)，此表征可用于在系統(tǒng)工作條件發(fā)生變化時(shí)跟蹤更優(yōu) SYSREF 采樣位置。通常，可以找到滿足匹配良好的系統(tǒng)在所有條件下的時(shí)序要求的單個值，例如 CLK± 和 SYSREF± 來自單個時(shí)鐘器件的條件。

每個 SYSREF_POS 采樣位置之間的步長可使用 SYSREF_ZOOM 進(jìn)行調(diào)整。當(dāng) SYSREF_ZOOM 設(shè)置為 0 時(shí)，延遲步長較粗。當(dāng) SYSREF_ZOOM 設(shè)置為 1 時(shí)，延遲步長較細(xì)。請參閱電氣規(guī)格表，了解當(dāng) SYSREF_ZOOM 被啟用和禁用時(shí)的延遲步長。通常，建議始終使用 SYSREF_ZOOM (SYSREF_ZOOM = 1)，除非未觀察到轉(zhuǎn)換區(qū)域（體現(xiàn)在 SYSREF_POS 中就是 1），低時(shí)鐘速率就是這種情況。SYSREF_POS 的位 0 和 19 始終設(shè)置為 1，因?yàn)闆]有足夠的信息來確定這些設(shè)置是否接近時(shí)序違例，盡管實(shí)際有效窗口可以擴(kuò)展到這些采樣位置之外。編程到 SYSREF_SEL 中的值是表示 SYSREF_POS 中所需位位置的十進(jìn)制數(shù)。表 7-4 列出了一些 SYSREF_POS 讀數(shù)示例和更優(yōu) SYSREF_SEL 設(shè)置。盡管 SYSREF_POS 狀態(tài)寄存器提供了 20 個采樣位置，但 SYSREF_SEL 僅允許選擇前 16 個采樣位置，對應(yīng)于 SYSREF_POS 位 0 至 15。附加的 SYSREF_POS 狀態(tài)位僅用于提供 SYSREF 有效窗口的額外信息。通常，由于電源電壓的延遲變化，選擇較低的 SYSREF_SEL 值，但在第四個示例中，值 14 可提供額外裕度，因此可以選擇該值。

如果 SYSREF_PS_EN 設(shè)置為 0，則僅最后一個 SYSREF 邊沿用于 SYSREF_POS 值。將 SYSREF_PS_EN 設(shè)置為 1 會啟用“無限持續(xù)”模式，其中，如果自啟用 SYSREF_PS_EN 以來的任何 SYSREF 邊沿在某個位置具有 1，則 SYSREF_POS 值會設(shè)置為 1。這為 SYSREF_POS 提供了最壞情況下的值，以選擇最優(yōu) SYSREF_SEL 設(shè)置。

要使用 SYSREF 窗口化：

1. 應(yīng)用 SYSREF 和 CLK
2. 設(shè)置 SYSREF_RECV_SLEEP = 0 和 SYSREF_ZOOM = 1
3. 如果需要持久性，請?jiān)O(shè)置 SYSREF_PS_EN = 1 并允許進(jìn)行多次 SYSREF 轉(zhuǎn)換以構(gòu)建 SYSREF_POS。
4. 讀取 SYSREF_POS 并確定 SYSREF_SEL 的正確設(shè)置，如上所示。如果無法確定正確的采樣點(diǎn)，則設(shè)置 SYSREF_ZOOM = 0 并重試。
5. 應(yīng)用 SYSREF_SEL 的正確值后，編程 SYSREF_PROC_EN = 1 和 SYSREF_ALIGN_EN = 1。
6. 器件未對 SYSREF 進(jìn)行正確處理，用戶可以繼續(xù)使用依賴于 SYSREF 的 JESD204C 接口（或其他功能）。
7. SYSREF 可能需要在較大溫度或電源電壓擺幅下進(jìn)行調(diào)節(jié)，具體取決于輸入時(shí)鐘頻率。節(jié) 6.8中給出了 SYSREF 對溫度的無效窗口相關(guān)性 (t_INV(TEMP)) 和 VA11 電源電壓 (t_INV(VA11))。要調(diào)整 SYSREF_SEL 以跟蹤 SYSREF 中相對于輸入時(shí)鐘的變化，可以循環(huán)以下步驟（即 JESD204C 鏈路運(yùn)行期間在后臺執(zhí)行）：
   1. 如果需要持久性，請清除并設(shè)置 SYSREF_PS_EN，并允許進(jìn)行多次 SYSREF 轉(zhuǎn)換來構(gòu)建 SYSREF_POS 數(shù)據(jù)。
   2. 讀取 SYSREF_POS 并確定 SYSREF_SEL 的新值（但尚未對其進(jìn)行編程）。遞增調(diào)整 SYSREF_SEL 的過程應(yīng)首選更接近之前 SYSREF_SEL 值的值，而不是選擇最小有效 SYSREF_SEL 值。這有助于確保選擇并跟蹤原始有效窗口，而不是選擇會導(dǎo)致時(shí)鐘重新對準(zhǔn)的不同窗口。
   3. 編程 SYSREF_PROC_EN = 0。寫入新的 SYSREF_SEL 值，然后設(shè)置 SYSREF_PROC_EN = 1。器件現(xiàn)在會使用新的 SYSREF_SEL 值。
   4. 等待一段時(shí)間，然后返回上面的步驟 7a。