ZHCSXJ8B December 2024 – June 2025 ADC3648 , ADC3649
PRODUCTION DATA
- 1
- 1 特性
- 2 應(yīng)用
- 3 說明
- 4 器件比較
- 5 引腳配置和功能
- 6 規(guī)格
- 7 參數(shù)測量信息
- 8 詳細(xì)說明
- 9 應(yīng)用和實(shí)施
- 10器件和文檔支持
- 11修訂歷史記錄
- 12機(jī)械、封裝和可訂購信息
封裝選項(xiàng)
機(jī)械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
- RTD|64
散熱焊盤機(jī)械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
- RTD|64
訂購信息
8.3.9.7 測試圖形
該器件具有內(nèi)置測試圖形發(fā)生器，可簡化 LVDS 輸出的調(diào)試和/或校準(zhǔn)。測試圖形發(fā)生器位于 DDC 之后，如圖 8-66 所示。
圖 8-66 測試圖形發(fā)生器啟用測試圖形發(fā)生器（0x14A 中的寄存器 <TEST PATTERN>）會替換所有電流輸出數(shù)據(jù)樣本、正常 ADC 或抽取數(shù)據(jù)。所有通道的測試圖形都相同。測試圖形塊生成 20 位測試圖形，圖形由 <TEST PATTERN> 字段的值控制。
在抽取中，測試圖形塊默認(rèn)采用抽取的時(shí)鐘運(yùn)行，并且可以通過設(shè)置寄存器 0x14A 的 <PATTERN CLK> 字段切換到采用 FS 時(shí)鐘運(yùn)行。無法在低延遲工作模式下啟用測試圖形功能。
以下寄存器寫入可用于配置步長為 1 且分辨率為 14 位的斜坡圖形。
表 8-14 具有自定義步長的斜坡圖形配置示例
| ADDR | DATA | 說明 |
|---|---|---|
| 0x14A | 0x02 | 啟用具有自定義步長的斜坡圖形 |
| 0x14B | 0x0E | 步長為 14 LSB（在 20 位分辨率下），相當(dāng)于 14 位分辨率下的 1 LSB（16 位時(shí)的 1 LSB 為 0x10） |