1 引言

在較低速度 (<100kSPS) 下以高精度（>16 位）同時測量許多超低的電流電平 (<1μA) 時，工程師可以使用兩種解決方案，即德州儀器 (TI) AFE 系列 X 射線模擬前端和 DDC 系列模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC)。盡管最初設計用于醫(yī)學成像應用，但這些器件也可用于儀器儀表、體外診斷應用以及任何其他具有大量光電二極管或同時測量許多電壓的應用。

在這兩個器件系列中，測量的電流都不是浮動（分流）的，而是從固定的直流電平吸收或拉取（參見圖 2-1 和圖 3-1），因為輸入通過放大器的反饋作用虛短至某一電壓，與分立跨阻放大器的情況一樣。然而，與通過乘以電阻（在輸入放大器的反饋中）將電流轉(zhuǎn)換為電壓的跨阻放大器不同，這兩個系列都將積分器作為第一級。

這兩個器件系列都將大部分所需元件集成到單個 IC 中，從而實現(xiàn)從電流輸入到數(shù)字輸出（兩種情況下都是串行流）的功能。此功能可以調(diào)整滿量程（輸入增益）以優(yōu)化特定應用的信噪比，甚至將相同的解決方案用于不同應用來創(chuàng)建平臺設計。除了節(jié)省布板空間外，這種集成水平（具有由這些器件的數(shù)據(jù)表設置和支持的許多系統(tǒng)級規(guī)格）極大地簡化了量產(chǎn)中的設計工作和測試策略，從而縮短了上市時間并降低了開發(fā)成本。

盡管許多應用都可以使用任一器件，但它們之間的差異非常顯著，某一器件會更適合某一種給定的應用。在本文中，我們將解釋原因。