2 測試設(shè)置

本應(yīng)用手冊重點介紹了對不同測試設(shè)置的兩項比較：

1. 同級比較 LMK3C0105-Q1 和振蕩器
   1. 將 LMK3C0105-Q1的 EMI 性能與五個 Kyocera MC2520Z25.0000C19XSH 振蕩器進(jìn)行了比較。
   2. 所有輸出均為 25MHz LVCMOS 并使用 C_L= 5pF 進(jìn)行端接。
   3. 振蕩器安裝在具有相同層疊和電源濾波的板上，并連接到與 LMK3C0105-Q1 相同的容性負(fù)載 (C_L= 5pF)。
   4. 振蕩器以盡可能短的布線布置到 C_L（66mil 英寸），以表示典型用例。
   5. LMK3C0105-Q1 采用盡可能短的布線（66mil 英寸）來實現(xiàn)最佳典型時鐘發(fā)生器情況，采用 9-12 英寸布線來實現(xiàn)最差情況（請參閱節(jié) 2.3）。
2. 不同布局中 LMK3C0105-Q1 的比較
   1. LMK3C0105-Q1 的 EMI 性能在四種類似的板布局中記錄，其中參數(shù)發(fā)生了一處變化（例如布線長度）（如表 4-11中所述）。

所有板均在德州儀器 (TI) 符合 CISPR-25 和 CISPR-32 標(biāo)準(zhǔn)的 EMI 室設(shè)置中進(jìn)行了測試。