ZHCAB99 December 2020 TCAN1144-Q1 , TCAN1146-Q1
本部分僅供參考,不需要用戶輸入。IEC62380 和 SN29500 使用總 Mbit 和/或晶體管數(shù)量來確定基本級(jí)別時(shí)基故障。如果選擇了“Transistor”,則會(huì)基于原始晶體管數(shù)量按比例放大模擬時(shí)基故障。如果選擇了“Area”,則會(huì)基于器件相對(duì)于芯片的大小按比例放大時(shí)基故障率。這不會(huì)改變器件的總基礎(chǔ)時(shí)基故障,而只是改變基礎(chǔ)時(shí)基故障的分布。