ZHCAB99 December 2020 TCAN1144-Q1 , TCAN1146-Q1
TI 使用 IEC/TR 62380 模型來估算此器件所用 [器件封裝類型] 封裝的封裝時(shí)基故障率。IEC/TR 62380 封裝模型主要涉及發(fā)生在封裝和 PCB 之間的熱膨脹導(dǎo)致的磨損。該模型包含的多個(gè)變量已經(jīng)替換為特定于器件的數(shù)據(jù)(如果可用),例如功耗和封裝熱特性。強(qiáng)烈建議用戶在“Mission Profile Tailoring”選項(xiàng)卡中應(yīng)用其自有應(yīng)用任務(wù)剖面,因?yàn)檫@對(duì)基礎(chǔ)封裝時(shí)基故障率具有重大影響。TI 的估算中默認(rèn)使用汽車電機(jī)控制曲線。
大型汽車和工業(yè)應(yīng)用中的 TI Field 數(shù)據(jù)指示隨機(jī)封裝故障率和器件永久性故障率,這些故障率比使用 IEC/TR 62380 生成的估算值至少低兩個(gè)數(shù)量級(jí)。TI 器件的設(shè)計(jì)對(duì) IEC/TR 62380 中規(guī)定的磨損失效機(jī)制具有很高的裕度;大多數(shù)應(yīng)用在產(chǎn)品壽命期內(nèi)不會(huì)接近磨損極限。也有人認(rèn)為,磨損機(jī)制應(yīng)被視為系統(tǒng)失效模式,因此不應(yīng)包括在安全指標(biāo)分析中。按照 IEC/TR 62380 標(biāo)準(zhǔn)生成的數(shù)據(jù)應(yīng)視為保守估算值。