ZHCSRS8F February 2023 – August 2025 TLV709
PRODMIX
該器件具有內(nèi)置的零泄漏控制電路。在高溫下，導(dǎo)通晶體管漏電流會(huì)增加，并開(kāi)始在空載 (IOUT = 0mA) 條件下影響 VOUT 精度。隨著 LDO 兩端余量 (VIN – VOUT) 的增加，這種泄漏變得更加嚴(yán)重。TLV709 有一個(gè)內(nèi)置的零泄漏控制電路，此電路可檢測(cè)導(dǎo)通晶體管泄漏并為泄漏提供一個(gè)接地放電路徑。該電路有助于 TLV709 在寬 VIN 和溫度范圍（–40°C 至 +125°C）內(nèi)保持更嚴(yán)格的 VOUT 精度。