ZHCSU63 December 2023 TAS5827
PRODUCTION DATA
該器件支持兩種不同的校驗(yàn)和方案,即循環(huán)冗余校驗(yàn) (CRC) 校驗(yàn)和與異或 (XOR) 校驗(yàn)和。寄存器讀取不會(huì)更改校驗(yàn)和,但對(duì)甚至不存在的寄存器的寫(xiě)入也會(huì)更改校驗(yàn)和。兩個(gè)校驗(yàn)和都是 8 位校驗(yàn)和,并且兩個(gè)校驗(yàn)和可同時(shí)使用。校驗(yàn)和可通過(guò)向它們各自的 4 字節(jié)寄存器位置寫(xiě)入一個(gè)起始值(例如 0x 00 00 00 00)來(lái)復(fù)位。