ZHCSTE6B October 2023 – October 2025 RES11A-Q1
PRODUCTION DATA
請參考 PDF 數(shù)據(jù)表獲取器件具體的封裝圖。
RES11A-Q1 的電阻通過以下公式來描述:
RInnom 和 RGnom 是每個電阻的標(biāo)稱值。參數(shù) tabs 是誤差項,用于描述相關(guān) RES11A-Q1 電阻器的絕對容差,使得 |tabs| ≤ 12%。例如,tabs = 10% 的標(biāo)稱 1kΩ 電阻實(shí)際上測量為 1.1kΩ。此誤差類似于大多數(shù)單元件電阻器的指定絕對容差,或更專業(yè)的電阻分壓器的端到端容差。
絕對容差主要取決于 SiCr 電阻率 (tSiCr) 的變化。給定 RES11A-Q1 的四個電阻呈叉指狀,并且來自相同的晶圓區(qū)域;因此,tSiCr 對于四個電阻中的每一個來說實(shí)際上相同,但 tSiCr 因器件而異。
以下示例顯示,當(dāng)從比例角度考慮每個分壓器時,tSiCr 誤差項會消失。參數(shù) tRx 是殘留誤差項,用于描述給定 RES11A-Q1 器件每個電阻的剩余有效容差(在考慮通用 tSiCr 之后)。
tRG1、tRG2、tRIN1 和 tRIN2 的獨(dú)立值描述了每個電阻的容差,但不是高斯意義上的獨(dú)立變量。相反,這些值之間的匹配(根據(jù)設(shè)計)用于在電阻器之間實(shí)現(xiàn)高度穩(wěn)定的比率關(guān)系,從而提供極低誤差的有效比率。
RES11A-Q1 的 tDx 限制通過在生產(chǎn)過程中進(jìn)行的精確參數(shù)測試來強(qiáng)制實(shí)施,并使用 Kelvin 連接更好地抑制潛在的誤差源。由于生成的 tD1 和 tD2 值是更多的隨機(jī)誤差項,因此 tD1 和 tD2 可以被視為獨(dú)立的高斯分布,這使得這些變量對于誤差分析更有用。單元元件電阻器沒有與 tDx 等效的,因?yàn)槌藵u變限值之外,不考慮任何器件間匹配。在其他分頻器數(shù)據(jù)表中,tDx 的等效值通常稱為比率容差。
由于在最終測試階段時會篩除所有不符合這些標(biāo)準(zhǔn)的器件,因此從技術(shù)上講,這些公式可以結(jié)合 方程式 14 用于證明給定器件的 tRx 值之間的其他關(guān)系(如有效最大限值)。但是,這一做法最終會得出過于保守的結(jié)果。為了使用平方根總和方法進(jìn)行更真實(shí)的統(tǒng)計分析,電氣特性 表的任意匹配 部分提供了一些額外電阻器與電阻器關(guān)系的測量標(biāo)準(zhǔn)偏差。有關(guān)實(shí)踐示例,請參閱節(jié) 8.1.3.2。