ZHCSK34C July 2020 – July 2025 CDCE6214-Q1
PRODUCTION DATA
請參考 PDF 數(shù)據(jù)表獲取器件具體的封裝圖。
該器件包含用于將 EEPROM 內(nèi)容讀取到器件寄存器中的循環(huán)冗余校驗 (CRC) 功能。啟動時,在內(nèi)部讀取 EEPROM 并計算 CRC 值。EEPROM 字之一包含較早存儲的 CRC 值。會將存儲的 CRC 值與實際的 CRC 值進行比較,并將結(jié)果傳輸?shù)郊拇嫫鳌Mㄟ^向 update_crc 位寫入 1,可以再次觸發(fā) CRC 計算。存儲的 CRC 值與計算得出的 CRC 值之間的不匹配僅供參考,不會阻塞器件運行。只需讀回 CRC 狀態(tài)位和實時 CRC 值即可加快系統(tǒng)內(nèi) EEPROM 編程速度,并避免讀回已知配置的 EEPROM 的每個字。
使用的多項式為 CCITT-CRC16:x16 + x12 + x5 + 1。