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ZHCSU54 December 2023 BQ77307

PRODUCTION DATA

封裝選項

機械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)

RGR|20
- MPQF239A

散熱焊盤機械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)

RGR|20
- QFND242E

訂購信息

6.9 電流檢測器

所述典型值的條件是 T_A = 25°C 且 V_BAT = 25.9V，最小值/最大值的條件是 T_A = -40°C 至 110°C 且 V_BAT = 3V 至 38.5V（除非另有說明）。

參數(shù)		測試條件	最小值	典型值	最大值	單位
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 1，正閾值（充電電流）⁽¹⁾	T_A = -20°C 至 65°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	186	271	355	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 2，正閾值（充電電流）⁽¹⁾	T_A = -20°C 至 65°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	670	794	921	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 3，正閾值（充電電流）⁽¹⁾	T_A = -20°C 至 65°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	1145	1317	1503	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 4，正閾值（充電電流）⁽¹⁾	T_A = -20°C 至 65°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	1594	1838	2089	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 5，正閾值（充電電流）⁽¹⁾	T_A = -20°C 至 65°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	2056	2364	2676	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 6，正閾值（充電電流）⁽¹⁾	T_A = -20°C 至 65°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	2516	2890	3276	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 7，正閾值（充電電流）⁽¹⁾	T_A = -20°C 至 65°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	3000	3419	3851	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 8，正閾值（充電電流）⁽¹⁾	T_A = -20°C 至 65°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	3460	3942	4443	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 9，正閾值（充電電流）⁽¹⁾	T_A = -20°C 至 65°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	3893	4466	5045	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 10，正閾值（充電電流）⁽¹⁾	T_A = -20°C 至 65°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	4386	4994	5627	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 1，正閾值（充電電流）⁽¹⁾	T_A = -40°C 至 110°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	88	275	462	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 2，正閾值（充電電流）⁽¹⁾	T_A = -40°C 至 110°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	581	794	978	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 3，正閾值（充電電流）⁽¹⁾	T_A = -40°C 至 110°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	1050	1317	1537	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 4，正閾值（充電電流）⁽¹⁾	T_A = -40°C 至 110°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	1527	1836	2106	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 5，正閾值（充電電流）⁽¹⁾	T_A = -40°C 至 110°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	1974 年	2360	2711	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 6，正閾值（充電電流）⁽¹⁾	T_A = -40°C 至 110°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	2483	2885	3290	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 7，正閾值（充電電流）⁽¹⁾	T_A = -40°C 至 110°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	2897	3412	3885	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 8，正閾值（充電電流）⁽¹⁾	T_A = -40°C 至 110°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	3357	3933	4498	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 9，正閾值（充電電流）⁽¹⁾	T_A = -40°C 至 110°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	3793	4458	5062	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 10，正閾值（充電電流）⁽¹⁾	T_A = -40°C 至 110°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	4261	4986	5654	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 1，負閾值（放電電流）⁽¹⁾	T_A = -20°C 至 65°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	-719	-635	-546	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 2，負閾值（放電電流）⁽¹⁾	T_A = -20°C 至 65°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	-1234	-1118	-1005	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 3，負閾值（放電電流）⁽¹⁾	T_A = -20°C 至 65°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	-1736	-1605	-1469	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 4，負閾值（放電電流）⁽¹⁾	T_A = -20°C 至 65°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	-2262	-2088	-1917	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 5，負閾值（放電電流）⁽¹⁾	T_A = -20°C 至 65°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	-2794	-2579	-2354	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 6，負閾值（放電電流）⁽¹⁾	T_A = -20°C 至 65°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	-3324	-3067	-2805	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 7，負閾值（放電電流）⁽¹⁾	T_A = -20°C 至 65°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	-3849	-3552	-3245	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 8，負閾值（放電電流）⁽¹⁾	T_A = -20°C 至 65°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	-4369	-4037	-3704	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 9，負閾值（放電電流）⁽¹⁾	T_A = -20°C 至 65°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	-4913	-4527	-4129	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 10，負閾值（放電電流）⁽¹⁾	T_A = -20°C 至 65°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	-5425	-5012	-4577	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 1，負閾值（放電電流）⁽¹⁾	T_A = -40°C 至 110°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	-862	-630	-369	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 2，負閾值（放電電流）⁽¹⁾	T_A = -40°C 至 110°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	-1340	-1113	-865	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 3，負閾值（放電電流）⁽¹⁾	T_A = -40°C 至 110°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	-1887	-1600	-1284	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 4，負閾值（放電電流）⁽¹⁾	T_A = -40°C 至 110°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	-2387	-2087	-1765	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 5，負閾值（放電電流）⁽¹⁾	T_A = -40°C 至 110°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	-2949	-2575	-2179	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 6，負閾值（放電電流）⁽¹⁾	T_A = -40°C 至 110°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	-3487	-3064	-2622	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 7，負閾值（放電電流）⁽¹⁾	T_A = -40°C 至 110°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	-3991	-3548	-3083	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 8，負閾值（放電電流）⁽¹⁾	T_A = -40°C 至 110°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	-4599	-4033	-3420	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 9，負閾值（放電電流）⁽¹⁾	T_A = -40°C 至 110°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	-5067	-4521	-3918	μV
V_{CUR_DET_THR}	電流檢測電壓閾值 (V_SRP – V_SRN)，設置 = 10，負閾值（放電電流）⁽¹⁾	T_A = -40°C 至 110°C。使用平均數(shù)據(jù)進行測量以消除噪聲的影響。	-5580	-5011	-4415	μV
t_{CUR_DET}	測量間隔			2.44		ms

(1) 由特性和生產(chǎn)測試的組合指定