在較低頻率下進行處理時，與 SMA100B 的較低頻率源輸入相比，使用低噪聲時鐘緩沖器 (LMK1C110x) 時的相位噪聲在 FSWP 相位噪聲分析儀上顯示出更好的性能（如圖 5-2 所示）。這一結果表明，在較低頻率下，壓擺率敏感性會影響 FSWP 的內(nèi)部電路，因此源測量結果趨于悲觀。通過 LMK1C110x 在較低頻率下緩沖來自 SMA100B 的相同輸入時，在較低失調(diào)頻率下會顯示出更好的結果。類似的概念適用于所有對壓擺率敏感且基于 PLL 的合成器器件。

在較高頻率下，F(xiàn)SWP 上顯示的源噪聲測量結果和緩沖器測量結果之間的差距會減小，因為更好的壓擺率有助于在較高頻率下有效使用測量儀器，如圖 5-2 所示。添加低噪聲緩沖器仍然有助于提高緩沖器噪聲性能，特別是在較低的輸入振幅下，但在某些時候，由于壓擺率較高，添加時鐘緩沖器根本不起作用。由于大多數(shù)近端相位噪聲很重要的系統(tǒng)都是從較低頻率開始，因此添加緩沖器可顯著提高裕度。

以較高頻率運行的 LMX2820 等合成器器件具有較寬的輸入頻率范圍，輸入級通常針對較高頻率進行了優(yōu)化。當使用 10MHz 輸入源或其他較低的頻率時，相位噪聲性能下降非常明顯。在 100MHz 下，由于壓擺率要高得多，因此性能下降并不明顯，但在使用低噪聲正弦波-方波轉換緩沖器時，尤其是在較低的輸入功率級別下仍有一些改善。