由于不同的數(shù)據(jù)模式和傳輸線路而產(chǎn)生的符號(hào)間串?dāng)_ (ISI) 可能會(huì)導(dǎo)致垂直和水平眼圖張開度發(fā)生變化。因此，在使用眼圖掃描監(jiān)測(cè) PCIe 鏈路質(zhì)量和穩(wěn)定性時(shí)，必須考慮標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)。眼圖掃描的工作原理是使用 64 級(jí)可編程 DAC 來對(duì) PCIe 轉(zhuǎn)接驅(qū)動(dòng)器發(fā)送器處的信號(hào)命中 數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)。該 DAC 的水平電平會(huì)在可編程電壓范圍內(nèi)針對(duì) DAC 的 64 個(gè)階躍分別進(jìn)行掃描，從而將輸入信號(hào)限制為轉(zhuǎn)接驅(qū)動(dòng)器內(nèi)部的眼圖掃描計(jì)數(shù)器。圖 3-1 直觀地呈現(xiàn)了這種情形。

在每個(gè) DAC 電平，根據(jù)信號(hào)與 DAC 電壓電平的交點(diǎn)計(jì)算信號(hào)命中 數(shù)，如圖 3-2 中的水平線所示。對(duì)于每個(gè)選定的 DAC 電平，命中計(jì)數(shù)會(huì)累積在易失性轉(zhuǎn)接驅(qū)動(dòng)器寄存器中，然后在可編程 DAC 電壓范圍內(nèi)掃描 DAC 電平時(shí)存儲(chǔ)在外部存儲(chǔ)器中。圖 3-2 中進(jìn)一步詳細(xì)展示了眼圖掃描方法。

為了充分理解眼圖掃描的概念，必須引入累積分布函數(shù) (CDF) 的統(tǒng)計(jì)概念。實(shí)值隨機(jī)變量 X 的 CDF 由以下函數(shù)給出：

其中右側(cè)表示隨機(jī)變量 X 的值小于或等于 x 的概率。在這種情況下，隨機(jī)變量 X 呈正態(tài)分布，其中均值為 μ 且標(biāo)準(zhǔn)偏差為 σ，即

我們可以假設(shè)高速波形的命中 事件是正態(tài)分布的，因此在接近轉(zhuǎn)接驅(qū)動(dòng)器處的垂直眼圖張開度時(shí)，可以使用正態(tài)分布隨機(jī)變量 X 的 CDF。

利用上述定義和 CDF，可以就命中計(jì)數(shù)累積得出以下結(jié)論：

• 隨機(jī)位模式會(huì)根據(jù)傳輸介質(zhì)損耗特性引起隨機(jī)的垂直眼圖張開度，因此在累積命中計(jì)數(shù)時(shí)會(huì)提取波形的多個(gè)樣本。
• 在 DAC 電壓電平下累積零命中計(jì)數(shù)意味著電壓電平超出垂直眼圖張開度的頂部或底部。
• 在 DAC 電壓電平下累積恒定的高命中計(jì)數(shù)意味著電壓電平處于垂直眼圖張開范圍內(nèi)。

圖 3-3 展示了這些結(jié)論的一個(gè)示例。波形是使用示波器捕獲的，眼圖的頂部和底部用零命中計(jì)數(shù)值來界定，而垂直眼圖內(nèi)部的區(qū)域以近乎恒定的命中計(jì)數(shù)值形式累積。