設(shè)計(jì)人員經(jīng)常會(huì)對放大器的典型規(guī)格提出質(zhì)疑，以便設(shè)計(jì)出更穩(wěn)健的電路。由于工藝技術(shù)和制造過程上存在自然差異，因此放大器的每種規(guī)格都與預(yù)期值存在一定的偏差，例如放大器的輸入失調(diào)電壓。這些偏差通常遵循高斯（鐘形曲線）或正態(tài) 分布，即使電氣特性 中沒有最小值或最大值規(guī)格，電路設(shè)計(jì)人員也可以利用該信息來確定系統(tǒng)的限值空間。

圖 6-9 高斯分布

圖 6-9 展示了一個(gè)分布示例，其中 μ 或 mu 是分布的均值，而 σ 或 sigma 是系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)偏差。對于表現(xiàn)出這種分布的規(guī)格，可以預(yù)期所有器件中大約三分之二 (68.26%) 器件的值落在平均值的標(biāo)準(zhǔn)偏差或一 σ 內(nèi)（從 μ–σ 到 μ+σ）。

電氣特性 的典型值 一列中列出的值以不同的方式表示，具體取決于規(guī)格。根據(jù)一般經(jīng)驗(yàn)法則，如果規(guī)格本身具有非零均值（例如增益帶寬），那么典型值等于均值 (μ)。然而，如果規(guī)格本身具有接近于零（例如輸入失調(diào)電壓）的均值，那么典型值等于均值加上一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)偏差 (μ + σ)，這樣才能最為準(zhǔn)確地表示典型值。

您可以使用該圖表來計(jì)算器件中某個(gè)規(guī)格的近似概率；例如，對于 TLV910x-Q1，典型的輸入失調(diào)電壓值為 300μV，因此所有 TLV910x-Q1 器件中有 68.2% 的器件預(yù)計(jì)都具有 –300μV 至 +300μV 的失調(diào)電壓。在 4σ (±1200μV) 條件下，分布的 99.9937% 都具有小于 ±1200μV 的失調(diào)電壓，這意味著總體的 0.0063% 位于這些限值之外，相當(dāng)于 15,873 個(gè)器件有 1 個(gè)器件超出該限值。

在最小值或最大值列中具有值的規(guī)格由 TI 指定，超過這些限值的器件會(huì)從生產(chǎn)材料中剔除。例如，TLV910x-Q1 系列在 25°C 條件下的最大失調(diào)電壓為 1.5mV，盡管這相當(dāng)于約 5σ（約為 170 萬個(gè)器件中有 1 個(gè)器件，可能性微乎其微），但 TI 會(huì)將任何失調(diào)電壓大于 1.5mV 的器件從生產(chǎn)材料中剔除。

對于最小值或最大值列中沒有值的規(guī)格，可考慮為應(yīng)用選擇 1σ 值的足夠限值空間，并使用該值來設(shè)計(jì)最差情況下的電路。例如，6σ 值相當(dāng)于約 5 億個(gè)器件中有 1 個(gè)器件，發(fā)生的可能性微乎其微，可以作為一個(gè)寬限值空間選項(xiàng)來設(shè)計(jì)系統(tǒng)。在這種情況下，TLV910x-Q1 系列在失調(diào)電壓漂移上沒有最大值和最小值，但根據(jù)圖 5-2 和電氣特性 中 0.6μV/°C 的典型值，失調(diào)電壓漂移的 6σ 值約為 3.6μV/°C。在為最壞情況的系統(tǒng)條件進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí)，可以使用該值來估計(jì)整個(gè)溫度范圍內(nèi)的最壞失調(diào)電壓，而不用知道實(shí)際的最小值或最大值。

然而，隨著時(shí)間的推移，工藝差異和調(diào)整會(huì)改變典型的均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差，除非最小值或最大值規(guī)格列中給出了值，否則 TI 無法明確器件的性能。此信息旨在僅用于估算器件的性能。