設(shè)計(jì)人員經(jīng)常會(huì)對(duì)放大器的典型規(guī)格提出質(zhì)疑，以便設(shè)計(jì)出更穩(wěn)健的電路。工藝技術(shù)和制造過程上存在自然差異，因此放大器的每種規(guī)格都與理想值存在一定的偏差，例如放大器的輸入失調(diào)電壓。這些偏差通常遵循高斯（“鐘形曲線”）或正態(tài) 分布，即使Topic Link Label7.6中沒有最小值或最大值規(guī)格，電路設(shè)計(jì)人員也可以利用該信息來確定其系統(tǒng)的限值空間。

圖 8-4 理想的高斯分布

圖 8-4 展示了一個(gè)分布示例，其中 μ 或 mu 是分布的平均值，而 σ 或 sigma 是系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)偏差。對(duì)于表現(xiàn)出這種分布的規(guī)格，可以預(yù)期所有器件中大約三分之二 (68.26%) 器件的值落在平均值的標(biāo)準(zhǔn)差或 1σ 內(nèi)（μ–σ 至 μ+σ）。

Topic Link Label7.6的典型值列中列出的值以不同的方式表示，具體取決于規(guī)格。根據(jù)一般的經(jīng)驗(yàn)法則，如果規(guī)格本身具有非零平均值（例如增益帶寬），那么典型值等于平均值 (μ)。然而，如果規(guī)格的平均值本身接近于零（例如輸入失調(diào)電壓），那么典型值等于均值加上一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)偏差 (μ + σ)，這樣才能最為準(zhǔn)確地表示典型值。

您可以使用此圖來計(jì)算器件中某個(gè)規(guī)格的近似概率；例如，對(duì)于 TLV6742，典型的輸入電壓失調(diào)值為 150μV，因此所有 TLV6742 器件中有 68.2% 的器件預(yù)計(jì)具有 –150μV 至 150μV 的失調(diào)電壓。

在最小值或最大值列中具有值的規(guī)格由 TI 確保，超過這些限值的器件將從生產(chǎn)材料中剔除。例如，TLV6742 器件在 25°C 條件下的最大失調(diào)電壓為 1.0mV，盡管這相當(dāng)于約 5σ（約為 170 萬個(gè)器件中有 1 個(gè)器件，可能性微乎其微），但 TI 確保任何失調(diào)電壓大于 1.0mV 的器件都將從生產(chǎn)材料中剔除。

對(duì)于最小值或最大值列中沒有值的規(guī)格，可考慮為應(yīng)用選擇 1 σ 值的足夠限值空間，并使用該值來設(shè)計(jì)最差情況下的電路。例如，6σ 值相當(dāng)于約 5 億個(gè)器件中有 1 個(gè)器件，這種情況極不可能發(fā)生，可以作為一個(gè)寬限值空間選項(xiàng)來設(shè)計(jì)系統(tǒng)。在這種情況下，TLV6742 在溫漂上沒有最大值和最小值，但根據(jù) 圖 7-40 和Topic Link Label7.6中 0.2μV/°C 的典型值，可以計(jì)算出溫漂的 6σ 值約為 1.0μV/°C。在針對(duì)最壞情況的系統(tǒng)條件進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí)，可以使用該值來估計(jì)整個(gè)溫度范圍內(nèi)的最壞失調(diào)電壓，而不用知道實(shí)際的最小值或最大值。

然而，隨著時(shí)間的推移，工藝差異和調(diào)整會(huì)改變典型的平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差，除非最小值或最大值規(guī)格列中給出了值，否則 TI 無法保證器件的性能。此信息應(yīng)該只能用于估算器件的性能。