ZHCSN29A July 2021 – December 2021 TCA9536
PRODUCTION DATA
請(qǐng)參考 PDF 數(shù)據(jù)表獲取器件具體的封裝圖。
如果發(fā)生干擾或數(shù)據(jù)損壞,可以使用上電復(fù)位功能將 TCA9536 復(fù)位為默認(rèn)狀態(tài)。上電復(fù)位要求器件經(jīng)過下電上電后才能完全復(fù)位。當(dāng)器件在應(yīng)用中首次上電時(shí),也會(huì)發(fā)生此復(fù)位。
圖 10-1 顯示了兩種類型的上電復(fù)位。
圖 10-1 VCC 被降低至低于 POR 閾值,然后重新上升至 VCC表 10-1 指定了器件上電復(fù)位功能在進(jìn)行兩種類型的上電復(fù)位時(shí)的性能。
| 參數(shù)(1) | 最小值 | 最大值 | 單位 | ||
|---|---|---|---|---|---|
| VCC_FT | 下降速率 | 請(qǐng)參閱圖 10-1 | 1 | ms | |
| VCC_RT | 上升速率 | 請(qǐng)參閱圖 10-1 | 0.1 | ms | |
| VCC_TRR | 重新上升的時(shí)間(當(dāng) VCC 下降至 VPOR_MIN – 50mV 時(shí)或 VCC 下降至 GND 時(shí)) | 請(qǐng)參閱圖 10-1 | 2 | μs | |
| VCC_GH | 當(dāng) VCC_GW = 1μs 時(shí),VCC 可能會(huì)受到干擾但不會(huì)導(dǎo)致功能中斷的電平 | 請(qǐng)參閱圖 10-2 | 1.2 | V | |
| VCC_GW | 當(dāng) VCC_GH = 0.5 × VCC (VCC > 3V) 時(shí),不會(huì)導(dǎo)致功能中斷的干擾寬度 | 請(qǐng)參閱圖 10-2 | 10 | μs | |
電源中的干擾也會(huì)影響此器件的上電復(fù)位性能。干擾寬度 (VCC_GW) 和高度 (VCC_GH) 相互依賴。旁路電容、源阻抗和器件阻抗是影響上電復(fù)位性能的因素。圖 10-2 和 表 10-1 提供了有關(guān)如何測(cè)量這些規(guī)格的更多信息。
圖 10-2 干擾寬度和干擾高度VPOR 對(duì)上電復(fù)位至關(guān)重要。達(dá)到 VPOR 這一電壓電平時(shí),系統(tǒng)會(huì)釋放復(fù)位條件,并將所有寄存器和 I2C/SMBus 狀態(tài)機(jī)初始化為默認(rèn)狀態(tài)。VPOR 的值可能不同,具體取決于 VCC 是下降至 0 還是從 0 開始上升。圖 10-3 和表 10-1 提供了有關(guān)此規(guī)格的更多詳細(xì)信息。
圖 10-3 VPOR