ZHCACS9 june 2023 UCC256402 , UCC256403 , UCC256404
UCC25640x 的最小可檢測壓擺率為 100mV/ns。一旦高側(cè)柵極 (HO) 關(guān)閉,低側(cè)柵極 (LO) 就會(huì)在檢測到壓擺率后打開。如果錯(cuò)過壓擺率檢測,死區(qū)時(shí)間取決于諧振電流極性(節(jié) 1.19)。圖 1-10 顯示了提取死區(qū)時(shí)間內(nèi)的壓擺率信息的方法 [10]。在該仿真中,以 Infineon IPW6075CP MOSFET 為例。圖 1-11 顯示了從開關(guān)節(jié)點(diǎn)拉出 0.7A 電流時(shí)的開關(guān)節(jié)點(diǎn)電壓轉(zhuǎn)換。在這里,我們可以觀察到開關(guān)節(jié)點(diǎn)電壓在轉(zhuǎn)換期間具有不同的壓擺率,這是由于開關(guān)節(jié)點(diǎn)上出現(xiàn)的非線性電容(圖 1-15)造成的。該非線性電容是上部(電壓從 0V 變?yōu)?390V)和下部(電壓從 390V 變?yōu)?0V)MOSFET 輸出電容的組合,如圖 1-13 和圖 1-14 所示。使用 SIMetrix 仿真提取每個(gè) MOSFET 的輸出電容圖。圖 1-12 顯示了提取結(jié)果。
圖 1-10 用于得出死區(qū)時(shí)間內(nèi)的開關(guān)節(jié)點(diǎn)壓擺率的 SIMetrix 仿真
圖 1-11 死區(qū)時(shí)間內(nèi)的開關(guān)節(jié)點(diǎn)電壓壓擺率
圖 1-12 使用 SIMetrix 從器件模型中提取輸出電容
圖 1-13 上部 MOSFET 輸出電容與漏源電壓間的關(guān)系
圖 1-15 開關(guān)節(jié)點(diǎn)上產(chǎn)生的輸出電容與開關(guān)節(jié)點(diǎn)電壓間的關(guān)系
圖 1-14 下部 MOSFET 輸出電容與漏源電壓間的關(guān)系可采用以下方法來改進(jìn)壓擺率檢測: