ZHCSC71F March 2014 – July 2025 TPS25200
PRODUCTION DATA
輸入和輸出電容提升了器件的性能;必須針對特定的應(yīng)用對實(shí)際電容進(jìn)行優(yōu)化。對于所有應(yīng)用,為了實(shí)現(xiàn)本地噪聲去耦,建議在 IN 和 GND 之間盡可能靠近器件的位置上安裝一個(gè) 0.1μF 或更大的陶瓷旁路電容器。
當(dāng) VIN 斜升超過 7.6V 時(shí),VOUT 跟隨 VIN,直到 TPS25200在 t(OVLO_off_delay) 之后關(guān)斷內(nèi)部 MOSFET。t(OVLO_off_delay) 在很大程度上取決于 VIN 斜升速率,因此 VOUT 會遇到某個(gè)峰值電壓。增大輸出電容可以降低輸出峰值電壓,如 圖 8-3 所示。
圖 8-3 VOUT 峰值電壓與 COUT 間的關(guān)系(VIN 以 1V/μs 斜升速率從 5V 階躍至 15V)