ZHCSL92G May 2020 – March 2024 TLV9151-Q1 , TLV9152-Q1 , TLV9154-Q1
PRODUCTION DATA
- 1
- 1 特性
- 2 應(yīng)用
- 3 說明
- 4 引腳配置和功能
- 5 規(guī)格
- 6 詳細(xì)說明
- 7 應(yīng)用和實現(xiàn)
- 8 器件和文檔支持
- 9 修訂歷史記錄
- 10機(jī)械、封裝和可訂購信息
封裝選項
機(jī)械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
散熱焊盤機(jī)械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)
訂購信息
6.3.8 典型規(guī)格與分布
設(shè)計人員經(jīng)常會對放大器的典型規(guī)格提出質(zhì)疑，以便設(shè)計出更穩(wěn)健的電路。由于工藝技術(shù)和制造過程存在自然差異，因此放大器的每種規(guī)格都與理想值存在一定的偏差，例如放大器的失調(diào)電壓。這些偏差通常遵循高斯（鐘形曲線）或正態(tài) 分布，即使節(jié) 5.7 中沒有最小值或最大值規(guī)格，電路設(shè)計人員也可以利用該信息來確定其系統(tǒng)的限值空間。
圖 6-9 理想的高斯分布圖 6-9 展示了一個分布示例，其中 μ 或 mu 是分布的均值，而 σ 或 sigma 是系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)偏差。對于表現(xiàn)出這種分布的規(guī)格，可以預(yù)期所有器件中大約三分之二 (68.26%) 的值落在均值的一個標(biāo)準(zhǔn)差或 1σ 內(nèi)（從 μ – σ 到 μ + σ）。
根據(jù)具體規(guī)格，節(jié) 5.7的典型值 一列中列出的值以不同的方式表示。根據(jù)一般經(jīng)驗法則，如果規(guī)格本身具有非零均值（例如增益帶寬），那么典型值等于均值 (μ)。然而，如果規(guī)格本身具有接近于零（例如輸入失調(diào)電壓）的均值，那么典型值等于均值加上一個標(biāo)準(zhǔn)偏差 (μ + σ)，這樣才能最為準(zhǔn)確地表示典型值。
該圖表可用于計算器件中某個規(guī)格的近似概率；例如，對于 TLV915x-Q1，典型的輸入電壓失調(diào)值為 125μV，因此預(yù)計所有 TLV915x-Q1 器件中有 68.2% 的器件都具有 –125μV 至 125μV 的失調(diào)電壓。在 4 σ (±500μV) 條件下，分布的 99.9937% 都具有小于 ±500μV 的失調(diào)電壓，這意味著總體的 0.0063% 位于這些限值之外，相當(dāng)于 15,873 個器件有 1 個器件超出該限值。
在最小值或最大值列中具有值的規(guī)格由 TI 確保，超過這些限值的器件將從生產(chǎn)材料中剔除。例如，TLV915x-Q1 系列器件在 25°C 條件下具有 675μV 的最大失調(diào)電壓，盡管這相當(dāng)于約 5σ（約為 170 萬個器件中有 1 個器件，可能性微乎其微），TI 確保任何失調(diào)電壓大于 895μV 的器件都將會被從生產(chǎn)材料中剔除。
對于最小值或最大值列中沒有值的規(guī)格，可考慮為應(yīng)用選擇 1σ 值的足夠限值空間，并使用此值進(jìn)行最壞情況下的設(shè)計。例如，6σ 值相當(dāng)于大約 5 億分之 1 的單位，這種概率極小，可以作為設(shè)計系統(tǒng)時的寬保護(hù)帶。在這種情況下，TLV915x-Q1 系列在失調(diào)電壓漂移上沒有最大值和最小值，但根據(jù)圖 5-2 和節(jié) 5.7 中 0.3μV/°C 的典型值，可以計算出失調(diào)電壓漂移的 6σ 值約為 1.8μV/°C。在為最壞情況的系統(tǒng)條件進(jìn)行設(shè)計時，可以使用該值來估計整個溫度范圍內(nèi)的最壞失調(diào)電壓，而不用知道實際的最小值或最大值。
然而，隨著時間的推移，工藝差異和調(diào)整會改變典型的均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差，除非最小值或最大值規(guī)格列中給出了值，否則 TI 無法保證器件的性能。此信息應(yīng)該只能用于估算器件的性能。