ZHCST04 September 2024 LMR66430-EP
PRODUCTION DATA
LMR66430-EP 在運(yùn)行時(shí)會(huì)消耗內(nèi)部功率。這種功耗的影響是將轉(zhuǎn)換器的內(nèi)部溫度升高到環(huán)境溫度以上。內(nèi)核溫度 (TJ) 是環(huán)境溫度、功率損耗以及器件的有效熱阻 RθJA 和 PCB 組合的函數(shù)。LMR66430-EP 的最高結(jié)溫必須限制為 150°C。這會(huì)限制器件的最大功率耗散,從而限制負(fù)載電流。方程式 12 展示了重要參數(shù)之間的關(guān)系??梢钥闯?,較大的環(huán)境溫度 (TA) 和較大的 RθJA 值會(huì)降低最大可用輸出電流。
可以使用本數(shù)據(jù)表中提供的曲線來估算轉(zhuǎn)換器效率。如果在其中某條曲線中找不到所需的運(yùn)行條件,則可以使用內(nèi)插來估算效率?;蛘?,可以調(diào)整 EVM 以匹配所需的應(yīng)用要求,并且可以直接測(cè)量效率。RθJA 的正確值更難估計(jì)。有關(guān)更多信息,請(qǐng)參閱半導(dǎo)體和 IC 封裝熱指標(biāo) 應(yīng)用報(bào)告。
此設(shè)計(jì)的外殼溫度測(cè)量方式如圖 8-12 所示。外殼頂部和結(jié)之間的溫度梯度通常只有幾度 (°C),因此這種測(cè)量可確定給定設(shè)計(jì)的熱裕度
其中
有效 RθJA 是一個(gè)關(guān)鍵參數(shù),取決于許多因素,例如:
對(duì)于給定的工作條件,可以使用方程式 13 來估算 IC 結(jié)溫。
其中
上面提到的 IC power Loss 等于總功率損耗減去來自電感器直流電阻的損耗。
下圖可用于估算 IC 在特定電路板面積下的熱阻。
以下資源可用作理想熱 PCB 設(shè)計(jì)和針對(duì)給定應(yīng)用環(huán)境估算 RθJA 的指南: