CY54FCT273T
- Function, Pinout, and Drive Compatible With FCT and F Logic
- Reduced VOH (Typically = 3.3 V) Versions of Equivalent FCT Functions
- Edge-Rate Control Circuitry for Significantly Improved Noise Characteristics
- Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
- Matched Rise and Fall Times
- ESD Protection Exceeds JESD 22
- 2000-V Human-Body Model (A114-A)
- 200-V Machine Model (A115-A)
- 1000-V Charged-Device Model (C101)
- Fully Compatible With TTL Input and Output Logic Levels
- CY54FCT273T
- 32-mA Output Sink Current
- 12-mA Output Source Current
- CY74FCT273T
- 64-mA Output Sink Current
- 32-mA Output Source Current
The \x92FCT273T devices consist of eight edge-triggered D-type flip-flops with individual D inputs and Q outputs. The common buffered-clock (CP) and master-reset (MR\) inputs load and reset all flip-flops simultaneously. These devices are edge-triggered registers. The state of each D input (one setup time before the low-to-high clock transition) is transferred to the corresponding flip-flop\x92s Q output. All outputs are forced low by a low logic level on the MR\ input.
This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.
技術(shù)文檔
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查看全部 12 | 類型 | 標(biāo)題 | 下載最新的英語版本 | 日期 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 數(shù)據(jù)表 | 8-Bit Registers 數(shù)據(jù)表 (Rev. A) | 2001年 10月 1日 | |||
| * | SMD | CY54FCT273T SMD 5962-92215 | 2016年 6月 21日 | |||
| 應(yīng)用手冊 | Power-Up Behavior of Clocked Devices (Rev. B) | PDF | HTML | 2022年 12月 15日 | |||
| 選擇指南 | Logic Guide (Rev. AB) | 2017年 6月 12日 | ||||
| 應(yīng)用手冊 | Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) | 2015年 12月 2日 | ||||
| 選擇指南 | 邏輯器件指南 2014 (Rev. AA) | 最新英語版本 (Rev.AC) | PDF | HTML | 2014年 11月 17日 | ||
| 選擇指南 | 《高級總線接口邏輯器件選擇指南》 | 英語版 | 2010年 7月 7日 | |||
| 用戶指南 | LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) | 2007年 1月 16日 | ||||
| 應(yīng)用手冊 | 選擇正確的電平轉(zhuǎn)換解決方案 (Rev. A) | 英語版 (Rev.A) | 2006年 3月 23日 | |||
| 應(yīng)用手冊 | Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection | 2004年 7月 8日 | ||||
| 用戶指南 | CYFCT Parameter Measurement Information | 2001年 4月 2日 | ||||
| 選擇指南 | Logic Guide (Rev. AC) | PDF | HTML | 1994年 6月 1日 |
設(shè)計和開發(fā)
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