ZHCUC73 July 2024 TRF1108
3.1.1 S 參數(shù)測試設(shè)置
圖 3-1 S 參數(shù)測試設(shè)置請按照以下指南進(jìn)行 S 參數(shù)測量：
- 如圖 3-1 所示，通常會使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析器 (VNA) 進(jìn)行 S 參數(shù)測量。要測量 TRF1108 EVM，建議使用 3 端口 VNA，它可以分別在 EVM 的輸入和輸出端口產(chǎn)生差分信號和接收單端信號。
- 在將射頻同軸電纜連接到 EVM 之前，必須使用校準(zhǔn)套件校準(zhǔn) VNA 以及電纜。
- 確保將 VNA 的頻率掃描和輸出功率級別設(shè)置在 TRF1108 器件的線性工作范圍內(nèi)?？梢哉{(diào)整 VNA 的分辨率帶寬 (RBW) 和動態(tài)范圍，以便為測量提供最佳掃描時間。
- 在增益測量期間，在器件的輸入和輸出側(cè)補償電路板布線損耗。圖 3-2 給出了在 EVM 上測量的典型輸入和輸出布線損耗。
圖 3-2 PCB 布線損耗與頻率的關(guān)系