ZHCUBR0 January 2024
3.2 效率
圖 3-2 至圖 3-5 顯示了 TPS54KC23EVM 兩種設(shè)計的效率。表 3-3 中列舉的測試點用于效率測量。使用這些測試點可盡可能降低 PCB 寄生功率損耗對測量功率損耗的影響。
以下是一些額外的測試設(shè)置注意事項，用于盡可能減少外部功率損耗來源。
- 禁用其他穩(wěn)壓器來避免在效率測量中包含該穩(wěn)壓器的開關(guān)靜態(tài)電流。
- 在測量 U2 的效率時，不要用 TP28 測量 U2 的 SW 引腳。使用該測試點測量 SW 引腳會為該節(jié)點加載 500Ω 電阻，效率測量包括該外部電阻中的功率損耗。
表 3-3 效率測量測試點
| 相關(guān) IC | 測試點名稱 | 參考位號 | 功能 |
|---|---|---|---|
| U1 | VIN1 | TP1 | 連接在 U1 引腳附近的輸入電壓測試點 |
| PGND1 | TP9 | 輸入電壓的 PGND 參考測試點 | |
| REG_VOUT1 | TP8 | U1 輸出電感附近的輸出電壓測試點 | |
| REG_GND1 | TP4 | 輸出電壓的 PGND 參考測試點 | |
| U2 | VIN2 | TP12 | 連接在 U2 引腳附近的輸入電壓測試點 |
| PGND2 | TP24 | 輸入電壓的 PGND 參考測試點 | |
| REG_VOUT2 | TP20 | U2 輸出電感附近的輸出電壓測試點 | |
| REG_GND2 | TP17 | 輸出電壓的 PGND 參考測試點 |
圖 3-2 U1 效率 – 跳躍模式（默認(rèn)）
圖 3-4 U2 效率 - FCCM 與跳躍模式間的關(guān)系
圖 3-3 U2 效率 – 跳躍模式（默認(rèn)）
圖 3-5 U2 效率 – FCCM