電路板上的測(cè)試點(diǎn)可用于連接 EVM 的電源輸入和負(fù)載輸出。典型的測(cè)試設(shè)置，請(qǐng)參閱 #SNVU6367127。下面列出了測(cè)試點(diǎn)接頭的功能：

• VIN_EMI - EVM 的輸入電源，包括一個(gè) EMI 濾波器。連接至合適的輸入電源。在此點(diǎn)連接進(jìn)行以 EMI 測(cè)試。
• GND_EMI — 輸入電源的接地連接
• VIN - IC 的輸入電源?？蛇B接到 DMM 以測(cè)量 EMI 濾波器之后的輸入電壓。
• VOUT — EVM 的輸出電壓測(cè)試點(diǎn)?？蛇B接到所需負(fù)載。
• GND — 接地測(cè)試點(diǎn)。
• EN - 此測(cè)試點(diǎn)連接到 EN 引腳。默認(rèn)情況下，有一個(gè)上拉電阻 R1 (RENT) 連接到 VIN 以啟用 IC。
• PGOOD - 此測(cè)試點(diǎn)從 IC 連接到 PGOOD 引腳?？赏ㄟ^(guò)上拉電阻器連接外部電源或保持?jǐn)嚅_(kāi)。
• RT - 在 RT 修整器件中，此測(cè)試點(diǎn)通過(guò)分流電阻器 R9 (RJM) 連接到 IC 的 RT 引腳。使用跳線 J3 (JRT) 將 RT 引腳連接到 Vcc 或 GND 時(shí)，確保安裝了 R9 (RJM) 并且未安裝 R8 (RT)。