摘要

總諧波失真 (THD) 和總諧波失真加噪聲 (THD + N) 是評估模擬系統(tǒng)信號保真度的關(guān)鍵性能指標(biāo)。在音頻、測試和測量以及生物醫(yī)學(xué)儀器等應(yīng)用中，即使輕微的失真也會(huì)顯著降低性能和可靠性。本應(yīng)用手冊介紹了 THD 和 THD + N 的數(shù)學(xué)原理，概述了多路復(fù)用器 (mux) 特性表征的標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)置，并重點(diǎn)說明導(dǎo)通電阻 (R_ON) 和 R_ON 平坦度對失真性能的影響。文中提供了實(shí)際應(yīng)用案例，以說明 TMUX4827、TMUX7612 等低 THD 多路復(fù)用器如何增強(qiáng)音頻開關(guān)、精密測量、可編程增益放大回路和生物醫(yī)學(xué)檢測方面的性能。通過了解多路復(fù)用器器件中的 THD 行為并選擇 R_ON 特性經(jīng)過優(yōu)化的元件，工程師可以確保在各種應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的信號再現(xiàn)和強(qiáng)大的系統(tǒng)性能。