ZHCAAD2A July 2015 – October 2020 CD14538B , CD14538B-MIL , CD4047B , CD4047B-MIL , CD4098B , CD4098B-MIL , CD54HC123 , CD54HC221 , CD54HC4538 , CD54HCT123 , CD54HCT4538 , CD74HC123 , CD74HC221 , CD74HC423 , CD74HC4538 , CD74HC4538-Q1 , CD74HCT123 , CD74HCT221 , CD74HCT423 , CD74HCT4538 , SN54121 , SN54123 , SN54221 , SN54AHC123A , SN54AHCT123A , SN54LS123 , SN54LS123-SP , SN54LS221 , SN74121 , SN74221 , SN74AHC123A , SN74AHC123A-EP , SN74AHCT123A , SN74LS122 , SN74LS123 , SN74LS221 , SN74LS423 , SN74LV123A , SN74LV123A-EP , SN74LV123A-Q1 , SN74LV221A , SN74LV221A-Q1 , SN74LVC1G123
4.1.1.1 溫度穩(wěn)定性
SN74LVC1G123 具有出色的溫度穩(wěn)定性特征。下圖展示了脈沖長度隨溫度變化的情況。為了僅測試半導體器件引起的變化，外部電阻器和電容器沒有暴露在相同溫度下。由于測試環(huán)境的原因，電路板在接近冰點的溫度下結(jié)霜，因此只使用了 10°C 以上的數(shù)據(jù)。脈沖長度隨電源電壓變化很大（如數(shù)據(jù)表上的 VCC 與 K 關(guān)系圖所示），因此每個圖上都顯示了最小和最大推薦電源值。
圖 4-4 Cext = 100pF 和 Rext = 100.7kΩ 時脈沖寬度隨溫度和電源電壓變化的情況
圖 4-6 Cext = 1nF 和 Rext = 100.7kΩ 時脈沖寬度隨溫度和電源電壓變化的情況
圖 4-5 Cext = 500pF 和 Rext = 100.7kΩ 時脈沖寬度隨溫度和電源電壓變化的情況