ZHCAA97D May   2021  – April 2025 DP83867CR , DP83867CS , DP83867E , DP83867IR , DP83867IS , DP83869HM

1.   1
2.   摘要
3.   商標
4. 1標準和系統(tǒng)要求
   1. 1.1 標準
   2. 1.2 測試設(shè)備供應商
   3. 1.3 測試系統(tǒng)要求
   4. 1.4 軟件設(shè)置和安裝
5. 2以太網(wǎng)物理層合規(guī)性測試
   1. 2.1 標準測試設(shè)置和過程
   2. 2.2 1000BASE-T
      1. 2.2.1 測試模式 1
         1. 2.2.1.1 模板
         2. 2.2.1.2 峰值電壓
         3. 2.2.1.3 壓降
      2. 2.2.2 測試模式 2
         1. 2.2.2.1 未過濾主模式抖動
      3. 2.2.3 測試模式 4
         1. 2.2.3.1 失真
         2. 2.2.3.2 共模電壓
         3. 2.2.3.3 回波損耗
         4. 2.2.3.4 共模噪聲抑制
   3. 2.3 100BASE-TX
      1. 2.3.1  模板（有源輸出接口）
      2. 2.3.2  差分輸出電壓
      3. 2.3.3  信號幅度對稱性
      4. 2.3.4  上升和下降時間
      5. 2.3.5  波形過沖
      6. 2.3.6  抖動
      7. 2.3.7  占空比失真
      8. 2.3.8  回波損耗
      9. 2.3.9  共模電壓
      10. 2.3.10 共模噪聲抑制
   4. 2.4 10BASE-Te
      1. 2.4.1 鏈路脈沖
      2. 2.4.2 10Base-Te 標準
         1. 2.4.2.1 TP_IDL
         2. 2.4.2.2 內(nèi)部 MAU
         3. 2.4.2.3 使用 TPM 時的抖動
         4. 2.4.2.4 不使用 TPM 時的抖動
         5. 2.4.2.5 差分電壓
         6. 2.4.2.6 共模電壓
         7. 2.4.2.7 回波損耗
         8. 2.4.2.8 諧波含量
         9. 2.4.2.9 共模抑制
6. 3調(diào)試測試方法
7. 4參考資料
8. 5修訂歷史記錄
9.   A 附錄 A：DP8386x 的以太網(wǎng)合規(guī)性測試概覽
10.   B 附錄 B：DP8386x 的以太網(wǎng)合規(guī)性測試 MDIO 寄存器寫入值