ZHCAA70A June 2019 – April 2021 AFE7769 , AFE7799
4.1.1 進(jìn)行時(shí)間門控測量
如果未在 TDD 測試模式下對頻譜分析儀進(jìn)行門控，則由于信號在時(shí)間上的不連續(xù)性，TDD 信號的頻譜會出現(xiàn)很多寄生信號。下文列出了使用 PXA 或 MXA 頻譜分析儀進(jìn)行時(shí)間門控測量的步驟：
- 掃描控制 >> 門控 >> 打開
- 掃描控制 >> 門控視圖 >> 關(guān)閉
- 掃描控制 >> 門控方法 >> LO
- 掃描控制 >> 更多信息 >> 門控資源 >> 外部 1
- Topic Link Label3.1確保將 TDD 模式連接到 中所述頻譜分析儀的外部觸發(fā)器 1 的輸入端。
- 掃描控制 >> 更多信息 >> 門控資源 >> 外部 1>> 觸發(fā)電平 >> 500mV
- 掃描控制 >> 更多信息 >> 控制 >> 級別
圖 4-2 開啟和關(guān)閉門控時(shí)發(fā)送器輸出端的頻譜
圖 4-3也可以在頻譜分析儀中啟用門控視圖，以查看發(fā)送器輸出功率與時(shí)間的關(guān)系，還可以設(shè)置門控的開始和停止時(shí)間，如 所示。
圖 4-3 顯示發(fā)送器輸出功率與時(shí)間之間關(guān)系的柵極視圖