ZHCSMC6 September 2022 TPS51383
PRODUCTION DATA
使用逐周期谷值檢測控制電路來實現(xiàn)輸出過流限制 (OCL)。在關(guān)斷狀態(tài)期間會監(jiān)測開關(guān)電流，方法是測量低側(cè) FET 漏源極電壓。此電壓與開關(guān)電流成正比。在高側(cè) FET 開關(guān)的導(dǎo)通時間內(nèi)，開關(guān)電流以線性速率增加，此速率由輸入電壓、輸出電壓、導(dǎo)通時間和輸出電感值決定。在低側(cè) FET 開關(guān)的導(dǎo)通階段，此電流以線性方式下降。開關(guān)電流的平均值是負載電流 IOUT。如果測得的低側(cè) FET 的漏源電壓高于與電流限制成正比的電壓，則低側(cè) FET 將保持導(dǎo)通狀態(tài)，直到電流電平變?yōu)榈陀?OCL 電平，這會降低可用的輸出電流。當電流受到限制時，輸出電壓往往會下降，因為負載需求高于轉(zhuǎn)換器可以支持的水平。當輸出電壓降至低于目標電壓的 60% 時，UVP 比較器會檢測到該電壓，并在等待 256us 后關(guān)斷器件。在這種類型的谷值檢測控制中，負載電流比 OCL 閾值高出一半的峰峰值電感器紋波電流。這種保護是一種鎖存功能，可通過 EN 變?yōu)榈碗娖交?VIN 下電上電來復(fù)位故障鎖存。