ZHCSJS2N November 1997 – April 2024 CD54HC4051 , CD54HC4052 , CD54HC4053 , CD54HCT4051 , CD74HC4051 , CD74HC4052 , CD74HC4053 , CD74HCT4051 , CD74HCT4052 , CD74HCT4053
PRODUCTION DATA
請參考 PDF 數據表獲取器件具體的封裝圖。
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靜電放電 (ESD) 會損壞這個集成電路。德州儀器 (TI) 建議通過適當的預防措施處理所有集成電路。如果不遵守正確的處理和安裝程序,可能會損壞集成電路。 |
| ESD 的損壞小至導致微小的性能降級,大至整個器件故障。精密的集成電路可能更容易受到損壞,這是因為非常細微的參數更改都可能會導致器件與其發(fā)布的規(guī)格不相符。 |