電路板上的測試點(diǎn)可用于連接 EVM 的電源輸入和負(fù)載輸出。典型的測試設(shè)置，請參閱 圖 1-1。下面列出了測試點(diǎn)接頭的功能：

• Vin_EMI — EVM 的輸入電源，包括一個(gè) EMI 濾波器。連接至合適的輸入電源。在此處進(jìn)行連接以執(zhí)行 EMI 測試。
• GND_EMI — 輸入電源的接地連接
• Vin — IC 的輸入電源?？蛇B接到數(shù)字萬用表以測量 EMI 濾波器之后的輸入電壓。
• VOUT — EVM 的輸出電壓測試點(diǎn)?？蛇B接到所需負(fù)載。
• GND — 接地測試點(diǎn)。
• PG — 此測試點(diǎn)從 IC 連接到 PGOOD 引腳?？赏ㄟ^上拉電阻器連接外部電源或保持?jǐn)嚅_。
• SYNC —在 MODE/SYNC 修整器件中，此測試點(diǎn)連接到 IC 的 SYNC 引腳。此測試點(diǎn)也可連接到外部時(shí)鐘，以同步 IC。在應(yīng)用同步時(shí)鐘輸入時(shí)，請確保未安裝 RT 電阻器。如果安裝 RMOD，在應(yīng)用同步時(shí)鐘輸入之時(shí)，JMODE/SYNC 跳線不能將引腳 2 短接到兩個(gè)相鄰引腳。關(guān)于如何評估 RT 修整器件，請參閱 Topic Link Label1.2中的 JMODE/SYNC 跳線描述。
• Vcc — 此測試點(diǎn)連接到 IC 的 Vcc 引腳。
• AGND— 此測試點(diǎn)代表模擬接地測試點(diǎn)，并且連接到接地平面。